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高阻器件低頻噪聲測(cè)試技術(shù)厚膜電阻電壓噪
高阻器件低頻噪聲測(cè)試技術(shù)厚膜電阻電壓噪 文章 進(jìn)入高阻器件低頻噪聲測(cè)試技術(shù)厚膜電阻電壓噪技術(shù)社區(qū)
高阻器件低頻噪聲測(cè)試技術(shù)與應(yīng)用研究--高阻器件噪聲測(cè)試技術(shù)的驗(yàn)證和應(yīng)用
- 4.1電壓噪聲測(cè)試技術(shù)的驗(yàn)證4.1.1測(cè)試技術(shù)驗(yàn)證方案及驗(yàn)證標(biāo)準(zhǔn)為了驗(yàn)證該系統(tǒng)的可靠性，我們采用圖3.9中的測(cè)試方法對(duì)1M的厚膜電阻進(jìn)行了電壓噪聲測(cè)試，其中Rx為待測(cè)阻值為1M的厚膜電阻，Rt為400K繞線電阻，R1為25K可變繞線電...
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高阻器件低頻噪聲測(cè)試技術(shù)厚膜電阻電壓噪介紹
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歡迎您創(chuàng)建該詞條，闡述對(duì)高阻器件低頻噪聲測(cè)試技術(shù)厚膜電阻電壓噪的理解，并與今后在此搜索高阻器件低頻噪聲測(cè)試技術(shù)厚膜電阻電壓噪的朋友們分享。 創(chuàng)建詞條
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