EEPW首頁(yè) >>
主題列表 >>
驗(yàn)證及測(cè)試論壇”
驗(yàn)證及測(cè)試論壇” 文章 進(jìn)入驗(yàn)證及測(cè)試論壇”技術(shù)社區(qū)
NI主辦第三屆“設(shè)計(jì)、驗(yàn)證及測(cè)試論壇”
- 美國(guó)國(guó)家儀器有限公司（National Instruments，簡(jiǎn)稱NI）于9月底在北京成功主辦第三屆“設(shè)計(jì)、驗(yàn)證及測(cè)試論壇”（Design Validation and Test Forum，即DVTF 2006）。本屆DVTF是繼2004和2005年之后，NI連續(xù)第三年在中國(guó)地區(qū)成功地舉辦這一活動(dòng)，并且DVTF的品牌業(yè)已在行業(yè)用戶和媒體間確立了相當(dāng)?shù)闹取? 本屆論壇以一場(chǎng)形式新穎的主題演講開始，并分為“自動(dòng)化測(cè)試”和“嵌入式系統(tǒng)設(shè)計(jì)”兩
- 關(guān)鍵字： “設(shè)計(jì) NI 測(cè)量 測(cè)試 第三屆 驗(yàn)證及測(cè)試論壇” 測(cè)試測(cè)量
NI 中國(guó)成功舉辦第二屆“設(shè)計(jì)、驗(yàn)證及測(cè)試論壇”
- 新聞發(fā)布——2005年5月——美國(guó)國(guó)家儀器有限公司（National Instruments，簡(jiǎn)稱NI）于4月在上海國(guó)際會(huì)議中心成功主辦第二屆“設(shè)計(jì)、驗(yàn)證及測(cè)試論壇” （Design Validation Test Forum，即DVTF 2005），今年的主題為“測(cè)試緊跟設(shè)計(jì)的步伐”。本屆論壇總共吸引了逾500位工程師、技術(shù)人員和院校教師參與此次盛會(huì)，其中97.1%的來賓表示“此次活動(dòng)對(duì)他們的工作有所幫助”，70%將會(huì)推薦他們的同事參加明年的“設(shè)計(jì)、驗(yàn)證及測(cè)試論壇”
- 關(guān)鍵字： “設(shè)計(jì) 驗(yàn)證及測(cè)試論壇” 測(cè)試測(cè)量
| 共2條 1/1 1 |
驗(yàn)證及測(cè)試論壇”介紹
您好，目前還沒有人創(chuàng)建詞條驗(yàn)證及測(cè)試論壇”!
歡迎您創(chuàng)建該詞條，闡述對(duì)驗(yàn)證及測(cè)試論壇”的理解，并與今后在此搜索驗(yàn)證及測(cè)試論壇”的朋友們分享。 創(chuàng)建詞條
歡迎您創(chuàng)建該詞條，闡述對(duì)驗(yàn)證及測(cè)試論壇”的理解，并與今后在此搜索驗(yàn)證及測(cè)試論壇”的朋友們分享。 創(chuàng)建詞條
關(guān)于我們 -
廣告服務(wù) -
企業(yè)會(huì)員服務(wù) -
網(wǎng)站地圖 -
聯(lián)系我們 -
征稿 -
友情鏈接 -
手機(jī)EEPW
Copyright ?2000-2015 ELECTRONIC ENGINEERING & PRODUCT WORLD. All rights reserved.
《電子產(chǎn)品世界》雜志社 版權(quán)所有 北京東曉國(guó)際技術(shù)信息咨詢有限公司
京ICP備12027778號(hào)-2 北京市公安局備案：1101082052 京公網(wǎng)安備11010802012473
Copyright ?2000-2015 ELECTRONIC ENGINEERING & PRODUCT WORLD. All rights reserved.
《電子產(chǎn)品世界》雜志社 版權(quán)所有 北京東曉國(guó)際技術(shù)信息咨詢有限公司
京ICP備12027778號(hào)-2 北京市公安局備案：1101082052 京公網(wǎng)安備11010802012473