靜電測試 文章 進入靜電測試技術社區(qū)
USB接口的EMC設計
- 在提到干擾對USB的影響時，差分數(shù)據(jù)傳輸與簡單的同軸電纜相比具有很大的優(yōu)勢。在感性干擾效應(磁場)情況下，導線的絞合可以彌補干擾效應?！馯SB控制器的輸入/輸出不是完全對稱的，因此USB信號顯示出共模干擾?！馤ayout與HF/EMC不兼容，寄生電容和缺少波阻匹配會產(chǎn)生共模干擾?！耠娐吩O計(USB濾波器)不充分，濾波器影響信號質(zhì)量，和/或插損太低。●接口設計(插座，外殼)不充分。不良的接地會減小電纜的屏蔽衰耗。濾波器具有不良的接地參考?！馯SB電纜不對稱、屏蔽不良以及沒有足夠好的接地。這種電纜會劣化信號質(zhì)
- 關鍵字： EMC 靜電測試 USB
DCDC導致EMI輻射超標整改案例分享
- 分享一個EMI整改文檔，對于EMC來說，接觸的案例越多，整改的成功率就越高，整改的方法也越多，從案例中吸取教訓，總結(jié)經(jīng)驗，避免設計中出現(xiàn)同樣的問題。注意：按照文檔描述，從下面兩張圖片可以看出470MHz和940MHz(二次諧波)左右，這兩個頻點的功率非常高，可能該產(chǎn)品是一款無線產(chǎn)品，對于主頻--有意輻射頻率來說是有豁免權(quán)的，所以只需要注意200MHz之前的頻段，由于頻譜超標帶寬較寬，可以肯定非時鐘、晶振輻射超標引起，幾乎肯定輻射源在電源了，不過最后的結(jié)果，電源部分雖然PASS了，但是后面又引起了其他的頻點
- 關鍵字： EMC 靜電測試
EMC之靜電整改
- 電子產(chǎn)品如手機，智能手表，TWS耳機在認證時往往需要做靜電測試，測試過程出現(xiàn)不可恢復的故障，或整機復位重啟。問題詳細描述某智能手表在靜電測試時，打充電輸入端子的接觸±4KV出現(xiàn)系統(tǒng)復位，甚至概率性卡死，長時間不能恢復。充電端子在bottom層，板子為四層一階。問題具體分析1、分析如下：經(jīng)過對PCB的研究發(fā)現(xiàn)，在充電彈片和正極充電路徑下方的相鄰層信號線過多，沒有完整的地來釋放靜電，并有高速的flash信號經(jīng)過。當靜電打進來時，靜電瞬間干擾到信號走線，靜電管還來不及釋放靜電，導致系統(tǒng)異常。第四層(bottom
- 關鍵字： EMC 靜電測試
汽車電子與普通電子產(chǎn)品在靜電測試上的差異
- 汽車電子與普通電子產(chǎn)品在靜電測試對比靜電放電是一種自然現(xiàn)象，當兩種不同介電強度的材料相互摩擦時，就會產(chǎn)...
- 關鍵字： 汽車電子 普通電子產(chǎn)品 靜電測試
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靜電測試介紹
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