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      EEPW首頁(yè) >> 主題列表 >> 逐次逼近

      基于40 nm CMOS工藝的高速SAR ADC的設(shè)計(jì)

      • 基于40 nm CMOS工藝,設(shè)計(jì)了一種高速逐次逼近型模數(shù)轉(zhuǎn)換器。本設(shè)計(jì)采用了非二進(jìn)制冗余DAC技術(shù)來(lái)緩解ADC對(duì)建立時(shí)間和建立精度的要求,來(lái)提高ADC量化的準(zhǔn)確性;采用帶有預(yù)放大級(jí)的高速比較器來(lái)提高比較器的精度,同時(shí)減小后級(jí)Latch的回踢噪聲,采用了兩級(jí)Latch來(lái)進(jìn)一步提高比較器的速度;采用基于鎖存器的鎖存單元來(lái)提高SAR邏輯控制電路的速度,并且采用了異步時(shí)序控制,不需要外部時(shí)鐘,有利于提高SAR ADC的速度,并降低了設(shè)計(jì)的復(fù)雜度。設(shè)計(jì)的SAR ADC在160 MHz的采樣頻率下,在不同輸入信號(hào)頻
      • 關(guān)鍵字: 高速通信  模數(shù)轉(zhuǎn)換器  逐次逼近  非二進(jìn)制  201803  

      為逐次逼近型ADC 設(shè)計(jì)可靠的數(shù)字接口

      • 簡(jiǎn)介逐次逼近型模數(shù)轉(zhuǎn)換器(因其逐次逼近型寄存器而稱為SAR ADC)廣泛運(yùn)用于要求最高18 位分辨率和最高5 MSPS 速率的應(yīng)用中。其優(yōu)勢(shì)包括尺寸小、功耗低、無(wú)流水線延遲和易用。主機(jī)處理器可以通過(guò)多種串行和并行接口(
      • 關(guān)鍵字: 逐次逼近    ADC    SAR  

      逐次逼近型 ADC:確保首次轉(zhuǎn)換有效

      • 簡(jiǎn)介最高 18 位分辨率、10 MSPS 采樣速率的逐次逼近型模數(shù)轉(zhuǎn)換器(ADC)可以滿足許多數(shù)據(jù)采集應(yīng)用的需求,包括便攜式、工 業(yè)、醫(yī)療和通信應(yīng)用。本文介紹如何初始化逐次逼近型 ADC 以實(shí)現(xiàn)有效轉(zhuǎn)換。逐次逼近型架構(gòu)逐次
      • 關(guān)鍵字: 逐次逼近    ADC    SAR  

      ADC分類及特點(diǎn)介紹

      • 在儀器儀表系統(tǒng)中,常常需要將檢測(cè)到的連續(xù)變化的模擬量如:溫度、壓力、流量、速度、光強(qiáng)等轉(zhuǎn)變成離散的數(shù)字量,才能輸入到計(jì)算機(jī)中進(jìn)行處理。這些模擬量經(jīng)過(guò)傳感器轉(zhuǎn)變成電信號(hào)(一般為電壓信號(hào)),經(jīng)過(guò)放大器放大后
      • 關(guān)鍵字: ADC    逐次逼近    SAR    Σ-Δ    雙積分  

      10位逐次逼近型A/D轉(zhuǎn)換器的芯片設(shè)計(jì)

      • 1 引言A/D轉(zhuǎn)換器是模擬系統(tǒng)與數(shù)字系統(tǒng)接口的關(guān)鍵部件,可以將需要測(cè)量的模擬信號(hào)精確地轉(zhuǎn)換成數(shù)字量信號(hào)。一旦以數(shù)字形式出現(xiàn),就能簡(jiǎn)單而準(zhǔn)確地對(duì)其進(jìn)行處理,從而提取出有用的信息?,F(xiàn)代電子系統(tǒng)中,模數(shù)轉(zhuǎn)換器(A
      • 關(guān)鍵字: 逐次逼近  芯片設(shè)計(jì)  轉(zhuǎn)換器    

      基于PWM技術(shù)的A/D轉(zhuǎn)換電路的設(shè)計(jì)

      • 1.引言對(duì)測(cè)控現(xiàn)場(chǎng)的被測(cè)模擬信號(hào)的處理一般常用A/D或V/F轉(zhuǎn)換技術(shù),兩種方法各有特點(diǎn):A/D轉(zhuǎn)換技術(shù)一...
      • 關(guān)鍵字: 比較器  MSP430  逐次逼近  
      共7條 1/1 1

      逐次逼近介紹

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