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考慮缺陷可能性，將車用IC DPPM降至零
- 半導體公司需要思考如何應對所有設計流程中的新挑戰(zhàn)，方能在快速成長的車用 IC市場中提升競爭力。為了符合ISO 26262國際安全規(guī)范中零百萬缺陷率（DPPM）的目標，可測試性設計（DFT）工程師采用了新的測試模式類型，包括單元識別（cell-aware）、互連和單元間橋接（單元鄰域）；但是在選擇應用模式類型和設置覆蓋率目標時，傳統方式不管在質量、測試時間還是測試成本上都存在著改善空間。 圖一 : 半導體公司需要思考如何應對所有設計流程中的新挑戰(zhàn)，方能在快速成長的車用IC市場中提升競爭力。（sou
- 關鍵字： 缺陷 車用IC DPPM Siemens EDA
車用IC需求走強 ’13～’18年產值成長最High
- 市場研究機構IC Insights指出，由于高階和平價新車款采用的IC數量皆穩(wěn)定且顯著增長，2014年車用IC市場產值預估將達217億美元，較2013年大幅躍升15%;2013～2018年的年復合成長率(CAGR)亦高達10.8%，不僅優(yōu)于同期整體IC市場的5.5%，更躍居所有IC應用領域之冠。
- 關鍵字： 車用IC
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