自校準(zhǔn) 文章進(jìn)入自校準(zhǔn)技術(shù)社區(qū)

精密ADC中的偏置和增益校準(zhǔn)功能：自校準(zhǔn)

了解模數(shù)轉(zhuǎn)換器（ADC）中的自校準(zhǔn)或內(nèi)部校準(zhǔn)功能。在本系列之前，我們討論了兩點(diǎn)校準(zhǔn)可用于消除ADC（模數(shù)轉(zhuǎn)換器）的偏移和增益誤差。根據(jù)所使用的硬件，可以使用定點(diǎn)或浮點(diǎn)方法來實(shí)現(xiàn)校準(zhǔn)方程式。替代方法是使用包括集成校準(zhǔn)函數(shù)的ADC，因?yàn)樵诰_ADC中可能找到不同類型的校準(zhǔn)函數(shù)，即：自我校準(zhǔn)系統(tǒng)校準(zhǔn)背景校準(zhǔn)在本文中，我們將探討自校準(zhǔn)功能。ADC校準(zhǔn)選項(xiàng)一些ADC支持校準(zhǔn)模式，這可以簡化設(shè)計并幫助我們從系統(tǒng)處理器中節(jié)約一些中央處理單元（CPU）周期。在這種情況下，您只需要調(diào)整ADC設(shè)置，發(fā)送適當(dāng)?shù)男?zhǔn)命令，然后等
關(guān)鍵字：精密ADC，偏置，增益校準(zhǔn)功能，自校準(zhǔn)

基于Mixed-Signal CMOS工藝，本文設(shè)計了一種采用分段式電流舵結(jié)構(gòu)的高速高精度DAC。同時在該DAC的內(nèi)部電路中采用了一種新的電流校準(zhǔn)技術(shù)，既保證了DAC電路的高精度，又減小了梯度誤差的影響。電路流片后的實(shí)際測試結(jié)果表明，該16位DAC在400MSPS轉(zhuǎn)換速率下仍具有良好的性能。
關(guān)鍵字： DAC CMOS 電流源自校準(zhǔn) SFDR 201401

摘要：基于一種樹型網(wǎng)絡(luò)和星型網(wǎng)絡(luò)相結(jié)合的混合型網(wǎng)絡(luò)結(jié)構(gòu)，采用即時同步技術(shù)和時鐘自校準(zhǔn)技術(shù)，以很低的同步代價...
關(guān)鍵字：自校準(zhǔn) 無線傳感器網(wǎng)絡(luò) Si1000

摘要：紅外線測溫儀由于長期用于生產(chǎn)一線進(jìn)行現(xiàn)場測試，使用環(huán)境惡劣，以及日常維護(hù)保養(yǎng)不當(dāng)，可能導(dǎo)致檢定有效期內(nèi)的紅外線測溫儀不能準(zhǔn)確測量甚至設(shè)備故障，導(dǎo)致測量失準(zhǔn)，影響電網(wǎng)安全穩(wěn)定運(yùn)行。根據(jù)紅外測溫原理
關(guān)鍵字：紅外線測溫儀法的研究自校準(zhǔn) 誤差

1 引言　　鎖相環(huán)(PLL)是一個能夠跟蹤輸入信號相位的閉環(huán)自動控制系統(tǒng)，它由鑒相器(PD)、環(huán)路濾波器(LF)、壓 ...
關(guān)鍵字：鎖相環(huán) YTO 自校準(zhǔn)

引言
ADSlllO是精密的連續(xù)自校準(zhǔn)A／D轉(zhuǎn)換器，帶有差分輸入和高達(dá)16位的分辨率。片內(nèi)可編程的增益放大器PGA提供高達(dá)8倍的增益，并且允許以高分辨率對較小的信號進(jìn)行測量。1 ADSll10芯片結(jié)構(gòu)及工作原理
1．1 ADS
關(guān)鍵字： ADSll 10 自校準(zhǔn) 模數(shù)轉(zhuǎn)換器

隨著半導(dǎo)體制造能力允許在單塊芯片上集成數(shù)千門邏輯電路，系統(tǒng)級芯片(SoC)開始占據(jù)未來IC技術(shù)的中心。數(shù)字RF...
關(guān)鍵字：集成 SoC 數(shù)字RF CMOS工藝自校準(zhǔn) 閉環(huán)測試物理實(shí)現(xiàn) 變?nèi)荻O管缺陷密度去耦電容

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