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            EEPW首頁 >> 主題列表 >> 自動(dòng)測(cè)試

            LabVIEW、多核技術(shù)及FPGA技術(shù)如何改變儀器技術(shù)及自動(dòng)測(cè)試

            •   問題:在最近這幾年里,儀器技術(shù)和自動(dòng)化測(cè)試領(lǐng)域發(fā)生了什么樣的變化?   Starkloff回答:我們現(xiàn)在正將處于軟件定義的世界里。我們每天使用的設(shè)備如智能手機(jī),機(jī)頂盒,甚至汽車,這些都是建立在嵌入式軟件系統(tǒng)發(fā)展的基礎(chǔ)之上。對(duì)于測(cè)試工程師們來說,在開發(fā)時(shí)間和預(yù)算減少的情況下對(duì)這些復(fù)雜的設(shè)備進(jìn)行測(cè)試給他們帶來了挑戰(zhàn)?,F(xiàn)在,測(cè)試管理人員和工程師們利用模塊化儀器,軟件定義體系來應(yīng)對(duì)這些挑戰(zhàn)和趨勢(shì)。   用戶定義儀器或測(cè)試系統(tǒng)的概念已經(jīng)不新了。實(shí)際上,用戶定義儀器已經(jīng)以虛擬儀器的形式存在了20多年的時(shí)間。推
            • 關(guān)鍵字: 測(cè)試  測(cè)量  LabVIEW  FPGA  自動(dòng)測(cè)試  

            天線方向圖自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)的設(shè)計(jì)

            •   引 言   天線是雷達(dá)的重要組成部分,天線方向圖的測(cè)試在雷達(dá)性能測(cè)試中占有極其重要的位置。早期人們采用手動(dòng)法進(jìn)行方向圖測(cè)量,數(shù)據(jù)的錄取、方向圖的繪制以及參數(shù)的計(jì)算都是手工方式,操作復(fù)雜,工作量大,耗時(shí)長(zhǎng),精度低。隨著微電子技術(shù)和計(jì)算機(jī)技術(shù)的飛速發(fā)展,天線方向圖自動(dòng)測(cè)試逐漸取代了手動(dòng)測(cè)量,實(shí)現(xiàn)了信號(hào)錄取、數(shù)據(jù)處理以及方向圖繪制的自動(dòng)化,大大提高了測(cè)量速度和精度。本文介紹了一種雷達(dá)天線方向圖的自動(dòng)化測(cè)量系統(tǒng),分析了軟硬件結(jié)構(gòu)及原理。   1 方向圖自動(dòng)測(cè)試原理及實(shí)驗(yàn)配置   根據(jù)天線的互易性原理,將
            • 關(guān)鍵字: 通訊  無線  網(wǎng)絡(luò)  天線  自動(dòng)測(cè)試  測(cè)試  測(cè)量  無線網(wǎng)絡(luò)  

            基于DSP的小型直流風(fēng)扇自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)

            • 摘 要: 針對(duì)目前我國(guó)小型直流風(fēng)扇產(chǎn)品出廠檢測(cè)設(shè)備落后的現(xiàn)狀,采用現(xiàn)代微處理器檢測(cè)與控制技術(shù)開發(fā)了基于DSP控制器TMS320F2812A的新型直流風(fēng)扇自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)。該系統(tǒng)實(shí)現(xiàn)了直流風(fēng)扇的一站式測(cè)試,大大提高了測(cè)試效率。給出了該系統(tǒng)的設(shè)計(jì)和實(shí)現(xiàn)方法,介紹了其主要硬件電路結(jié)構(gòu)和軟件流程。實(shí)際應(yīng)用表明,該系統(tǒng)在性價(jià)比、測(cè)試速度和可維護(hù)性等方面均有明顯的優(yōu)勢(shì)。 關(guān)鍵詞:直流風(fēng)扇 自動(dòng)測(cè)試 DSP 隨著IT產(chǎn)業(yè)的迅速發(fā)展,用在電子產(chǎn)品上的帶PWM控制的小型直流散熱風(fēng)扇(以下簡(jiǎn)稱風(fēng)扇)的需求量越來越
            • 關(guān)鍵字: DSP  單片機(jī)  嵌入式系統(tǒng)  直流風(fēng)扇  自動(dòng)測(cè)試  

            電子測(cè)量?jī)x器及自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)的新概念和新趨勢(shì)

            • 前 言 進(jìn)入21 世紀(jì)以來,科學(xué)技術(shù)的發(fā)展已難以用日新月異來描述。新工藝、新材料、新的制造技術(shù)催生了新的一代電子元器件,同時(shí)也促使電子測(cè)量技術(shù)和電子測(cè)量?jī)x器產(chǎn)生了新概念和新發(fā)展趨勢(shì)。本文擬從現(xiàn)代電子測(cè)量?jī)x器發(fā)展的三個(gè)明顯特點(diǎn)入手,進(jìn)而介紹下一代自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)的概念和基本技術(shù),引入合成儀器的概念,以供讀者參考。 現(xiàn)代電子測(cè)量?jī)x器的發(fā)展趨勢(shì) 儀器性能更加優(yōu)異 儀器的性能更加優(yōu)異,測(cè)量功能更加強(qiáng)大,儀器的測(cè)量精度,測(cè)試靈敏度,測(cè)量的動(dòng)態(tài)范圍等都達(dá)到了前所未有的高度。例如,Agilent 公司的PSA 頻
            • 關(guān)鍵字: 測(cè)量  測(cè)試  新概念  新趨勢(shì)  自動(dòng)測(cè)試  

            基站射頻自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)解決方案

            •      本文介紹了一種基站射頻自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)的解決方案,并對(duì)其組成、工作原理以及該方案的優(yōu)點(diǎn)進(jìn)行了詳細(xì)闡述。    該基站射頻自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)由頻譜分析儀、網(wǎng)絡(luò)分析儀、信號(hào)源、功率計(jì)、裝有自動(dòng)測(cè)試軟件的服務(wù)器、射頻開關(guān)、不同規(guī)格的濾波器和衰減器組成。能夠根據(jù)我國(guó)目前基站/直放站射頻行業(yè)檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)、國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)和國(guó)家無線電委員會(huì)的相關(guān)規(guī)定完成CDMA2000基站、CDMA基站、MA直放站、CDMA基站、基站、SM直放站和PHS基站共七種常見類型基站和直放站的
            • 關(guān)鍵字: RF專題  基站射頻  通訊  網(wǎng)絡(luò)  無線  自動(dòng)測(cè)試  

            基于DDS的MPT變壓器動(dòng)態(tài)參數(shù)測(cè)試系統(tǒng)

            • 摘    要:本文介紹了一種利用DDS(直接數(shù)字頻率合成技術(shù))完成掃頻測(cè)量的MPT變壓器動(dòng)態(tài)參數(shù)自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng),給出了該系統(tǒng)的實(shí)現(xiàn)思路和軟硬件結(jié)構(gòu)。關(guān)鍵詞:DDS;AD9850;掃頻;自動(dòng)測(cè)試引言為了提高液晶顯示器的顯示亮度,液晶顯示器都配有一個(gè)背光板。MPT變壓器是一種新型的用于背光板產(chǎn)生負(fù)高壓的陶瓷變壓器,其原理是利用陶瓷的固有頻率諧振后產(chǎn)生高壓信號(hào)。為了保證MPT變壓器的質(zhì)量,需要對(duì)其動(dòng)態(tài)參數(shù)(所有參數(shù)均指諧振時(shí)的參數(shù)),包括諧振頻率、輸入電壓、輸入電流、輸入功率、輸出電
            • 關(guān)鍵字: AD9850  DDS  掃頻  自動(dòng)測(cè)試  
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            自動(dòng)測(cè)試介紹

              目錄   1 正文   正文   現(xiàn)代自動(dòng)測(cè)試起源于軍事上的需要,于50年代中期開展了大規(guī)模的研制,到60年代中后期已應(yīng)用于工業(yè)中并得到進(jìn)一步發(fā)展。第一代自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)幾乎都是為某些測(cè)試目的而專門設(shè)計(jì)制造的。為了適應(yīng)武器系統(tǒng)和工業(yè)裝備的迅速更新?lián)Q代,人們?cè)噲D制成“萬能”的自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng),以至設(shè)備日益龐大復(fù)雜。自動(dòng)測(cè)試的目的除加快測(cè)試速度之外,更重要的是節(jié)省高級(jí)熟練技術(shù)人員的復(fù)雜勞動(dòng),使之從事 [ 查看詳細(xì) ]
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