電阻電容 在線測試 單片機(jī) 電隔離 文章 進(jìn)入電阻電容 在線測試 單片機(jī) 電隔離技術(shù)社區(qū)
Linux系統(tǒng)啟動時(shí)間的極限優(yōu)化
- (1)首先是對Linux啟動過程的跟蹤和分析,生成詳細(xì)的啟動時(shí)間報(bào)告。 較為簡單可行的方式是通過PrintkTime功能為啟動過程的所有內(nèi)核信息增加時(shí)間戳,便于匯總分析。PrintkTime最早為CELF所提供的一個(gè)內(nèi)核補(bǔ)丁,在后來的Kernel 2.6.11版本中正式納入標(biāo)準(zhǔn)內(nèi)核。所以大家可能在新版本的內(nèi)核中直接啟用該功能。如果你的Linux內(nèi)核因?yàn)槟承┰虿荒芨聻?.6.11之后的版本,那么可以參考CELF提供的方法修改或直接下載它們提供的補(bǔ)丁:http://tree.celinuxfor
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基于FPGA的分布式算法FIR濾波器設(shè)計(jì)
- 引 言 FIR(finite impulse response)濾波器是數(shù)字信號處理系統(tǒng)中最基本的元件,它可以在保證任意幅頻特性的同時(shí)具有嚴(yán)格的線性相頻特性,同時(shí)其單位沖激響應(yīng)是有限的,沒有輸入到輸出的反饋,是穩(wěn)定的系統(tǒng)。因此,F(xiàn)IR濾波器在通信、圖像處理、模式識別等領(lǐng)域都有著廣泛的應(yīng)用。 目前FIR濾波器的硬件實(shí)現(xiàn)有以下幾種方式: 一種是使用單片通用數(shù)字濾波器集成電路,這種電路使用簡單,但是由于字長和階數(shù)的規(guī)格較少,不易完全滿足實(shí)際需要。雖然可采用多片擴(kuò)展來滿足要求,但會增加體積和
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AMD下一代晶圓生產(chǎn)技術(shù):增產(chǎn)三成
- 在美國德克薩斯州舉行的第四屆國際半導(dǎo)體技術(shù)制造協(xié)會(ISMI)座談會上,AMD制造業(yè)務(wù)高級副總裁DouglasGrose提出,AMD并不急于把晶圓尺寸從300mm擴(kuò)大到450mm,而是要充分提高現(xiàn)有生產(chǎn)線的效率,打造“下一代晶圓生產(chǎn)廠”(NGF)。 在與會的集成電路生產(chǎn)商、原材料供應(yīng)商、相關(guān)工具銷售商和業(yè)界分析人士面前,Grose表示半導(dǎo)體的開發(fā)、生產(chǎn)和運(yùn)輸都需要更智能的方式;在轉(zhuǎn)入450mm晶圓之前,AMD的主要任務(wù)是挖掘現(xiàn)有300mm技術(shù)的潛力,并與業(yè)界伙伴合作,開發(fā)新的工具和工藝,讓晶圓生
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圍繞能量采集IC的競賽正上演 未來前景看好
- 能夠從所處環(huán)境中采集能量的系統(tǒng)已經(jīng)存在了,其中最為人所知的可能是自供電的手表。但是,現(xiàn)在的IC已經(jīng)能以和石英電子手表差不多的功耗執(zhí)行尖端的功能,因此催生了一場開發(fā)能量采集技術(shù)和標(biāo)準(zhǔn)的競賽。在很多應(yīng)用中,環(huán)境自身可以通過溫度差異、振蕩或光線來能夠提供所需的能量。 由于能量采集器一般需要很長時(shí)間才能夠采集到很少的能量,而這些能量隨后又會被傳感器上的數(shù)據(jù)傳輸系統(tǒng)損耗,因此在很多情況下采集器都帶有一個(gè)電容器來作為能量存儲子系統(tǒng)。在飛機(jī)制造、個(gè)人健康監(jiān)控系統(tǒng)或防入室盜竊檢測系統(tǒng)等各種應(yīng)用中,能量采集-或者
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FPGA奔向45納米
- Altera公司技術(shù)開發(fā)副總裁Mojy Chian博士來到北京,在媒體座談會上介紹了該公司45nm IC開發(fā)的情況。他說,45nm相對65nm的優(yōu)勢要比65nm相對90nm的優(yōu)勢更大,同時(shí)開發(fā)難度也更高。Altera通過選擇正確的合作伙伴、采用“第一片硅投產(chǎn)”的方法以及協(xié)作設(shè)計(jì)和工藝開發(fā)的方式來實(shí)現(xiàn)2008年45nm FPGA的生產(chǎn)。 那個(gè)叫Moore的人真幸運(yùn)。他沒有發(fā)現(xiàn)真正的物理定律。他只不過總結(jié)并預(yù)測了半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)的發(fā)展規(guī)律,但他可能比大多數(shù)發(fā)現(xiàn)真正定律的物理學(xué)家都著名。說他幸運(yùn),是因?yàn)槟莻€(gè)
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keithle發(fā)布MIMO射頻測試解決方案
- 吉時(shí)利儀器公司,發(fā)布具有業(yè)界領(lǐng)先水平的4X4MIMO(多輸入多輸出)射頻測試解決方案,該方案可用于下一代射頻通信設(shè)備與器件的研發(fā)與生產(chǎn)測試。吉時(shí)利本款MIMO射頻測試系統(tǒng)包括最新2920型矢量信號發(fā)生器(VSG)、2820型矢量信號分析儀(VSA)、2895型MIMO同步單元和功能強(qiáng)大的MIMO信號分析軟件。本款MIMO測試系統(tǒng)具有當(dāng)前業(yè)界最新的多種功能,包括: - 支持4X4 MIMO應(yīng)用 - 支持多種商用通信標(biāo)準(zhǔn),包括移動蜂窩、WiMAX和WLAN -
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SiTime新推超薄、高效能可編程MEMS振蕩器
- 以微機(jī)電系統(tǒng)(MEMS)技術(shù)開發(fā)硅振蕩器產(chǎn)品的SiTime公司,自去年推出第一代產(chǎn)品后,已于日前達(dá)到每周出貨10萬顆的里程碑??春靡源诵屡d技術(shù)取代傳統(tǒng)的石英振蕩器的趨勢,SiTime又推出兩款新產(chǎn)品,企圖以更佳的效能,擴(kuò)大其應(yīng)用范圍。 首先,SiTime發(fā)表了目前業(yè)界最輕薄的振蕩器,這款型號為SiT8002UT的產(chǎn)品厚度僅有0.37mm,適用于行動裝置、多芯片模塊以及自動化應(yīng)用等市場。 SiTime公司資深產(chǎn)品營銷經(jīng)理JasonSharma表示,SiT8002UT的大小僅有3.0x3.5x
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SMIC推出基于CPF的CADENCE 低功耗數(shù)字參考流程
- 中芯國際集成電路制造有限公司與Cadence設(shè)計(jì)系統(tǒng)有限公司,今天宣布 SMIC 正推出一種基于通用功率格式 (CPF) 的90納米低功耗數(shù)字參考流程,以及兼容 CPF 的庫。SMIC 還宣布其已經(jīng)加盟功率推進(jìn)聯(lián)盟 (PFI)。 這種新流程使用了由 SMIC 開發(fā)的知識產(chǎn)權(quán),并應(yīng)用了 Cadence 設(shè)計(jì)系統(tǒng)有限公司 (Nasdaq: CDNS) 的低功耗解決方案,其設(shè)計(jì)特點(diǎn)是可提高生產(chǎn)力、管理設(shè)計(jì)復(fù)雜性,并縮短上市時(shí)間。這種流程是 Cadence 與 SMIC 努力合作的結(jié)晶,進(jìn)一步強(qiáng)化了彼此
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Spansion采用ARM SecurCore增強(qiáng)型處理器提供支持
- Spansion宣布,它已經(jīng)獲得了增強(qiáng)型ARM® SecurCore® SC100™處理器的使用授權(quán),使Spansion將 ARM處理器集成在其基于閃存的大容量SIM卡解決方案MirrorBit® HD-SIM™系列。通過這項(xiàng)授權(quán)協(xié)議,ARM的SC100處理器標(biāo)準(zhǔn)可尋址存儲空間得到顯著擴(kuò)容,從1MB擴(kuò)充至1GB,從而使45納米及以下制程的單芯片MirrorBit HD-SIM解決方案能充分利用新增存儲容量。 根據(jù)這項(xiàng)協(xié)議,Spansion可以設(shè)計(jì)、
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1~9月國內(nèi)智能手機(jī)銷量同比增幅60%
- 今年上半年國內(nèi)智能手機(jī)市場規(guī)模持續(xù)擴(kuò)大。據(jù)賽諾市場研究公司的統(tǒng)計(jì),今年1~9月國內(nèi)市場智能手機(jī)的銷售量是1600萬部,比去年同期增長了60%。這一發(fā)展趨勢與全球智能手機(jī)的銷售情況相一致,根據(jù)分析公司Canalys的統(tǒng)計(jì),2007年第二季度全球智能手機(jī)出貨量是2680萬部,比去年同期的1890萬部增長41%?! 膰鴥?nèi)智能手機(jī)市場各操作系統(tǒng)的占比情況看,今年上半年,得益于諾基亞銷量的持續(xù)上升,尤其是其N系列手機(jī)的熱銷,Symbian操作系統(tǒng)在智能手機(jī)總出貨量中的市場份額持續(xù)上升,已經(jīng)占到整體智能手機(jī)市場
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基于P87LPC764型單片機(jī)的延時(shí)型漏電繼電器設(shè)計(jì)
- 摘要:介紹以P87LPC764型單片機(jī)為核心的延時(shí)型漏電繼電器設(shè)計(jì)方案。該方案可供用戶選擇實(shí)現(xiàn)額定動作電流和5倍額定動作電流下不同的延時(shí)動作時(shí)間,并有重合閘設(shè)定選擇功能。解決了以往傳統(tǒng)分立元件帶來的延時(shí)時(shí)間離散性大且不實(shí)現(xiàn)的弊端。 關(guān)鍵詞:延時(shí)時(shí)間 漏電繼電器 單片機(jī) 設(shè)計(jì) 1 引言 漏電繼電器是一種可在被保護(hù)線路漏電電流達(dá)到設(shè)定值(額定動作電流IΔ)后切斷被保護(hù)線路供電電源的保護(hù)裝置。漏電信號的檢測由零序電流互感器來完成,它可將檢測到的被保護(hù)線路的漏電
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51單片機(jī)使用點(diǎn)滴
- 一、硬件部分 1、一定要記得接晶振和復(fù)位電路。很多新手在Proteus上仿真成功后,焊板子的時(shí)候總是不記得把晶振和復(fù)位電路接上,這樣板子是不會工作的。 2、一般沒有特殊要求的話,選用11.0592MHZ的晶振。這樣有利于得到?jīng)]有誤差的波特率。特別是當(dāng)與PC機(jī)進(jìn)行通信的話,選用這種晶振比較好。 3、復(fù)位電路
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C51中的關(guān)鍵字
- 關(guān)鍵字 ;用 途 ;說 明 auto ;存儲種類說明 ;用以說明局部變量,缺省值為此 break ;程序語句 ;退出最內(nèi)層循環(huán) case ;程序語句 ;Switch語句中的選擇項(xiàng) char ;數(shù)據(jù)類型說明 ;單字節(jié)整型數(shù)或字符型數(shù)據(jù) const ;存儲類型說明 ;在程序執(zhí)行過程中不可更改的常量值 continue ;程序語句 ;轉(zhuǎn)向下一次循環(huán) default 
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51單片機(jī)I/O口使用經(jīng)驗(yàn)
- 按常規(guī),在51端口(P1、P2、P3)某位用作輸入時(shí),必須先向?qū)?yīng)的鎖存器寫入1,使FET截止。一般情況是這樣,也有例外。所謂IO口內(nèi)部與電源相連的上拉電阻而非一常規(guī)線性電阻,實(shí)質(zhì)上,該電阻是由兩個(gè)場效應(yīng)管并聯(lián)在一起:一個(gè)FET為負(fù)載管,其阻值固定;另一個(gè)FET可工作在導(dǎo)通或截止兩種狀態(tài)(姑且叫可變FET)。使其總電阻值變化近似為0或阻值較大(20千歐--40千歐)兩種情況。當(dāng)和端口鎖存器相連的FET由導(dǎo)通至截止時(shí),該阻值近似為0,可將引腳快速上拉至高電平;當(dāng)和鎖存器
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80C51 系列單片機(jī)仿真器選購指南
- 第一章 為什么要使用仿真器? 1.1 仿真的概念 仿真的概念其實(shí)使用非常廣,最終的含義就是使用可控的手段來模仿真實(shí)的情況。 在嵌入式系統(tǒng)的設(shè)計(jì)中,仿真應(yīng)用的范圍主要集中在對程序的仿真上。例如,在單片機(jī)的開發(fā)過程中,程序的設(shè)計(jì)是最為重要的但也是難度最大的。一種最簡單和原始的開發(fā)流程是:編寫程序-燒寫芯片-驗(yàn)證功能,這種方法對于簡單的小系統(tǒng)
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電阻電容 在線測試 單片機(jī) 電隔離介紹
您好,目前還沒有人創(chuàng)建詞條電阻電容 在線測試 單片機(jī) 電隔離!
歡迎您創(chuàng)建該詞條,闡述對電阻電容 在線測試 單片機(jī) 電隔離的理解,并與今后在此搜索電阻電容 在線測試 單片機(jī) 電隔離的朋友們分享。 創(chuàng)建詞條
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