高精度與高功率密度齊頭并進，解鎖數據中心測試的未來藍圖

• 作者：是德科技產品營銷經理Gobinath Tamil Vanan摘要為了滿足高速數據傳輸需求，數據中心蓬勃發(fā)展，在這個過程中光器件的作用變得越來越重要。實現電信號與光信號之間的高效轉換需要精確的測試解決方案，尤其是用于對高度集成的光器件執(zhí)行測試的解決方案。盡管這些器件的測試還面臨嚴峻挑戰(zhàn)，但已經有一些創(chuàng)新的解決方案能夠提高測試效率和準確度。正文為了滿足高速數據傳輸需求，數據中心蓬勃發(fā)展，在這個過程中光器件的關鍵作用日益顯現。實現電信號與光信號之間的高效轉換需要精確的測試解決方案，尤其是能夠對高度集成的光
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