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            EEPW首頁(yè) >> 主題列表 >> 測(cè)量控制

            我國(guó)儀器儀表與測(cè)量控制系統(tǒng)發(fā)展趨勢(shì)探討

            • 光子學(xué)隨著激光、電子、光譜、顯微及光纖等技術(shù)的發(fā)展而迅速成長(zhǎng)起來(lái),應(yīng)運(yùn)而生出現(xiàn)了不少新型科學(xué)儀器。 應(yīng)用這些儀器不但豐富了人們對(duì)于光與生物組織體相互作用機(jī)理的認(rèn)識(shí),而且促進(jìn)了各種新的生物研究?jī)x器和醫(yī)學(xué)診斷儀器的發(fā)明。光子成像技術(shù)主要包括漫射光層析成像、熒光成像、相干層析成像、光聲成像等。光學(xué)相干層像(OCT)結(jié)合了共焦顯微術(shù)和低相干光的外差探測(cè)技術(shù),它是一種在一維光學(xué)低相干反射測(cè)量技術(shù)的基礎(chǔ)上擴(kuò)展而來(lái)的二維或三維成像技術(shù)。
            • 關(guān)鍵字: 儀器儀表  測(cè)量控制  

            利用FPGA實(shí)現(xiàn)用戶自定義測(cè)量控制系統(tǒng)

            • NILabVIEW是一個(gè)開(kāi)放而靈活的開(kāi)發(fā)環(huán)境,能夠與多種工業(yè)硬件無(wú)縫連接,將基于配置的開(kāi)發(fā)方式和編程語(yǔ)言緊密結(jié)...
            • 關(guān)鍵字: FPGA  測(cè)量控制  

            基于ARM920T核的電磁流量?jī)x表的開(kāi)發(fā)

            • 基于ARM920T核的電磁流量?jī)x表的開(kāi)發(fā),0 引言  隨著流量檢測(cè)儀器的技術(shù)發(fā)展,對(duì)流量的測(cè)量?jī)x表提出了更高的應(yīng)用需求。傳統(tǒng)的流量檢測(cè)儀表一般依據(jù)各自的測(cè)量機(jī)理,通過(guò)簡(jiǎn)單的信息分析處理來(lái)完成測(cè)量工作。因此,在處理能力、測(cè)量精度、誤差修正、功能擴(kuò)
            • 關(guān)鍵字: 儀表  開(kāi)發(fā)  流量  電磁  ARM920T  基于  測(cè)量控制  ARM920T  Linux  電磁流量  
            共3條 1/1 1

            測(cè)量控制介紹

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