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幾種常用的單片機系統(tǒng)RAM測試方法
- 在各種單片機應(yīng)用系統(tǒng)中，存儲器的正常與否直接關(guān)系到該系統(tǒng)的正常工作。為了提高系統(tǒng)的可靠性，對系統(tǒng)的可靠性進行測試是十分必要的。通過測試可以有效地發(fā)現(xiàn)并解決因存儲器發(fā)生故障對系統(tǒng)帶來的破壞問題。本文針對
- 關(guān)鍵字： RAM 單片機系統(tǒng) 測試方法
基于環(huán)境模擬的入侵檢測系統(tǒng)測試方法
- 0 引 言
在保障網(wǎng)絡(luò)的安全性時，入侵檢測系統(tǒng)已經(jīng)成為必選的技術(shù)和手段，因為它比起其他的安全技術(shù)存在著很多優(yōu)勢。用戶在選用IDS時，總是從各自不同的需要來考慮。要衡量IDS的優(yōu)劣，就需要明確IDS應(yīng)該具備的 - 關(guān)鍵字： 環(huán)境 測試方法 模擬 入侵檢測系統(tǒng)
A/D轉(zhuǎn)換芯片的測試環(huán)境構(gòu)成及測試方法
- 所謂的混合信號測試,是指對A/D、D/A、鎖相環(huán)等兼有數(shù)字和模擬兩種信號的混合電路芯片的測試。混合信號測試的測試時間長、費用高、測試系統(tǒng)結(jié)構(gòu)復(fù)雜,在實現(xiàn)上具有一定的難度。而數(shù)字電路測試系統(tǒng)有著出色的測試能力,如
- 關(guān)鍵字： 轉(zhuǎn)換芯片 測試 環(huán)境 測試方法
生產(chǎn)制造中的低功耗測試方法
- 受無線和高功效器件的普及以及提供“綠色”電子系統(tǒng)的需求驅(qū)動，設(shè)計師越來越多地采用低功率設(shè)計來應(yīng)對越來越艱巨的功能性功耗挑戰(zhàn)。直到最近，管理制造測試過程中的功率問題已經(jīng)成為第二大備受業(yè)界關(guān)注的要求。但隨
- 關(guān)鍵字： 生產(chǎn)制造 低功耗 測試方法
更好、更快的開環(huán)增益測試方法
- 在使用反饋的系統(tǒng)中，反饋網(wǎng)絡(luò)是一種經(jīng)過配置而獲得特定增益和相位關(guān)系的電路，比如，一個可調(diào)節(jié)的比例積分差分(PID)控制器，用于調(diào)整環(huán)路的增益或相位以保證穩(wěn)定性(見圖1)。我們往往需要對這個反饋網(wǎng)絡(luò)在特定配置下的性能進行測量，以便對它的開環(huán)特性建立模型。但這樣的測試通常總是很困難的。例如，積分器的低頻增益可以非常高，一般會超出常用測試儀的測量范圍。所以，這些測試的目的是，使用現(xiàn)有的工具和少量的專用電路，以最小的工作量，快速地得到網(wǎng)絡(luò)頻率響應(yīng)的特性。 圖1? 一個基本的反饋系統(tǒng) 舉例
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測試方法介紹
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