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測(cè)壓系統(tǒng)
測(cè)壓系統(tǒng) 文章 進(jìn)入測(cè)壓系統(tǒng)技術(shù)社區(qū)
信號(hào)調(diào)理電路在測(cè)壓系統(tǒng)中的作用--信號(hào)調(diào)理電路的設(shè)計(jì)
- 信號(hào)調(diào)理電路的設(shè)計(jì)及仿真仿真的過(guò)程可分為以下幾個(gè)步驟：1.數(shù)據(jù)輸入：將用戶創(chuàng)建的電路圖結(jié)構(gòu)、元件數(shù)據(jù)讀入，選擇分析方法;2.參數(shù)設(shè)置：程序會(huì)檢查輸入數(shù)據(jù)的結(jié)構(gòu)和性質(zhì)，以及電路中闡述的內(nèi)容對(duì)參數(shù)進(jìn)行設(shè)置。3.電
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信號(hào)調(diào)理電路在測(cè)壓系統(tǒng)中的作用--INA128的內(nèi)部結(jié)構(gòu)圖
- INA128的內(nèi)部結(jié)構(gòu)圖如圖5所示。 圖5 INA128的內(nèi)部結(jié)構(gòu)圖增益設(shè)定INA128的基本連接中用一個(gè)獨(dú)立的外部電阻RG可以獲得的放大倍數(shù)為：G=1+50kOmega;/RG。式中50kOmega;為INA128內(nèi)部的兩個(gè)放大器反饋電阻之和，它們都
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信號(hào)調(diào)理電路在測(cè)壓系統(tǒng)中的作用--信號(hào)調(diào)理電路的
- 信號(hào)調(diào)理電路的設(shè)計(jì)及仿真仿真的過(guò)程可分為以下幾個(gè)步驟：1.數(shù)據(jù)輸入：將用戶創(chuàng)建的電路圖結(jié)構(gòu)、元件數(shù)據(jù)讀入，選擇分析方法;2.參數(shù)設(shè)置：程序會(huì)檢查輸入數(shù)據(jù)的結(jié)構(gòu)和性質(zhì)，以及電路中闡述的內(nèi)容對(duì)參數(shù)進(jìn)行設(shè)置。3.電
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信號(hào)調(diào)理電路在測(cè)壓系統(tǒng)中的作用--INA128的內(nèi)部結(jié)
- INA128的內(nèi)部結(jié)構(gòu)圖如圖5所示。 圖5 INA128的內(nèi)部結(jié)構(gòu)圖增益設(shè)定INA128的基本連接中用一個(gè)獨(dú)立的外部電阻RG可以獲得的放大倍數(shù)為：G=1+50kOmega;/RG。式中50kOmega;為INA128內(nèi)部的兩個(gè)放大器反饋電阻之和，它們都
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信號(hào)調(diào)理電路在測(cè)壓系統(tǒng)中的作用
- 20世紀(jì)90年代，傳感器與微型電子記錄儀組為一體的存儲(chǔ)測(cè)試產(chǎn)品在國(guó)際上出現(xiàn)。存儲(chǔ)測(cè)試技術(shù)是從七十年代開(kāi)始的一種新的彈上參數(shù)的測(cè)試方法，它是在不影響被測(cè)對(duì)象或影響在允許范圍的條件下，在被測(cè)體內(nèi)置入微型數(shù)據(jù)采
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測(cè)壓系統(tǒng)信號(hào)的設(shè)計(jì)與仿真
- 引言20世紀(jì)80年代初期，隨著微電子技術(shù)的發(fā)展，國(guó)外報(bào)道了利用存儲(chǔ)器芯片作為信息載體的數(shù)字存儲(chǔ)測(cè)試儀。20世紀(jì)90年代，傳感器與微型電子記錄儀組為一體的存儲(chǔ)測(cè)試產(chǎn)品在國(guó)際上出現(xiàn)。存儲(chǔ)測(cè)試技術(shù)是從七十年代開(kāi)始的
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測(cè)壓系統(tǒng)介紹
您好，目前還沒(méi)有人創(chuàng)建詞條測(cè)壓系統(tǒng)!
歡迎您創(chuàng)建該詞條，闡述對(duì)測(cè)壓系統(tǒng)的理解，并與今后在此搜索測(cè)壓系統(tǒng)的朋友們分享。 創(chuàng)建詞條
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