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            EEPW首頁 >> 主題列表 >> 晶圓測試

            Melexis馬來西亞晶圓測試基地盛大落成,實現(xiàn)戰(zhàn)略擴張

            • 全球微電子工程公司邁來芯宣布,其位于馬來西亞砂拉越州古晉的全球最大晶圓測試基地已圓滿落成。此次擴張不僅標(biāo)志著邁來芯對半導(dǎo)體增長需求的積極響應(yīng),也體現(xiàn)公司在亞太地區(qū)擴大的影響力和市場覆蓋的戰(zhàn)略布局。邁來芯在馬來西亞的擴張項目正式落成,這標(biāo)志著公司35年發(fā)展歷程中的又一重要里程碑。此次擴張不僅是對全球半導(dǎo)體市場日益增長需求的精準(zhǔn)把握,更是對未來十年內(nèi)預(yù)計半導(dǎo)體需求翻番趨勢的前瞻布局。邁來芯在古晉的晶圓測試基地配備90臺先進的半導(dǎo)體晶圓測試設(shè)備,專注于集成電路(IC)的嚴(yán)格測試。作為邊緣傳感器和驅(qū)動器技術(shù)的創(chuàng)新
            • 關(guān)鍵字: Melexis  晶圓測試  

            ERS在中國設(shè)立公司—上海儀艾銳思半導(dǎo)體電子有限公司

            • 半導(dǎo)體制造業(yè)提供溫度管理解決方案的領(lǐng)導(dǎo)者德國ERS electronic近日宣布成立中國公司:上海儀艾銳思半導(dǎo)體電子有限公司。公司坐落于上海市嘉定區(qū),與ERS中國實驗室共同為客戶與合作伙伴提供:銷售,訂單處理,技術(shù)支持和樣品展示等相關(guān)服務(wù)。自2018以來,ERS中國從一人辦公室成長為了一支完善的團隊。在中國的六年業(yè)務(wù)發(fā)展過程中,ERS的技術(shù)和產(chǎn)品廣受好評,贏得了越來越多客戶的信任與支持。隨著業(yè)務(wù)量的激增,ERS總部決定在中國設(shè)立公司。上海儀艾銳思半導(dǎo)體電子有限公司,位于上海市嘉定區(qū)“公司的這一決定進一步鞏
            • 關(guān)鍵字: ERS  儀艾銳思半導(dǎo)體  晶圓測試  溫度管理  

            獨立第三方芯片及晶圓測試服務(wù)商芯昱安啟動運營

            • 據(jù)蘇州滸墅關(guān)發(fā)布消息,5月28日,國內(nèi)獨立第三方芯片及晶圓測試服務(wù)商蘇州芯昱安電子科技有限公司(以下簡稱“芯昱安”)在滸墅關(guān)正式啟動運營。消息顯示,芯昱安是芯信安電子科技有限公司的全資控股子公司,公司基于CDTO模式,提供芯片全生命周期的測試服務(wù),涵蓋從產(chǎn)品設(shè)計到量產(chǎn)的全流程定制化產(chǎn)品測試。芯昱安專注高端芯片測試,尤其擅長復(fù)雜SoC芯片和復(fù)雜數(shù)模混合芯片領(lǐng)域的測試服務(wù)。公司聚焦國產(chǎn)替代2.0,專注于GPU、CPU、高速接口芯片、5G及WiFi6無線射頻芯片等高端復(fù)雜集成電路的測試開發(fā)及量產(chǎn)。據(jù)了解,目前,
            • 關(guān)鍵字: 芯片  晶圓測試  芯昱安  

            7納米+EUV版麒麟985傳3Q量產(chǎn) 封測訂單日、矽全拿

            • 晶圓測試(CP)業(yè)者證實,中國大陸華為海思第3季就會量產(chǎn)采用臺積電7納米加強版制程的麒麟985系列芯片,除了臺積電業(yè)績進補外,封測協(xié)力業(yè)者包括日月光投控與旗下矽品、晶圓測試接口中華精測等將直接受惠。
            • 關(guān)鍵字: 華為  海思  晶圓測試  麒麟  

            降低成本提高效率 MEMS動態(tài)晶圓測試系統(tǒng)

            • STI3000動態(tài)晶圓級測試系統(tǒng)采用STI的專利技術(shù)(DST),通過一個驅(qū)動電壓在晶圓上驅(qū)動MEMS移動,從而測量由此產(chǎn)生的 ...
            • 關(guān)鍵字: MEMS  動態(tài)  晶圓測試  

            半導(dǎo)體供應(yīng)鏈情況五月見分曉

            •   專業(yè)晶圓測試廠欣銓(3264)總經(jīng)理張季明預(yù)估,今年第二季的合并營收約與第一季持平,第三季的能見度還不明朗,市場都在等待5月中旬的到來,屆時半導(dǎo)體材料供應(yīng)鏈?zhǔn)欠駭噫湆⒁姺謺浴?  
            • 關(guān)鍵字: 半導(dǎo)體  晶圓測試  

            IC設(shè)計庫存調(diào)節(jié)

            •   晶圓測試廠京元電子和欣銓科技第3季營收雖然同步走揚,創(chuàng)下新高紀(jì)錄,但單季獲利表現(xiàn)不同調(diào)。京元電獲利季增將近15%,而欣銓因新機臺折舊費用增加,使獲利反而比上季衰退。展望第4季,京元電和欣銓皆認(rèn)為在第3季基期墊高下,第4季營運將勢必回調(diào),加上IC設(shè)計廠進行庫存調(diào)節(jié),影響晶圓代工和晶圓測試需求。   
            • 關(guān)鍵字: IC設(shè)計  晶圓測試  

            華虹NEC兩項新技術(shù)榮獲2009年度中國半導(dǎo)體創(chuàng)新產(chǎn)品和技術(shù)獎

            •   2010年中國半導(dǎo)體市場年會于2010年3月9日至10日在上海召開。大會公布了由中國半導(dǎo)體行業(yè)協(xié)會、中國電子材料行業(yè)協(xié)會、中國電子專用設(shè)備工業(yè)協(xié)會、中國電子報等單位共同評選出的 “第四屆(2009年度)中國半導(dǎo)體創(chuàng)新產(chǎn)品和技術(shù)”獲獎結(jié)果,上海華虹NEC電子有限公司(以下簡稱“華虹NEC”)的“0.13微米SONOS嵌入式存儲器工藝技術(shù)”和“芯片超級同測技術(shù)(SCT)”兩個項目分獲殊榮。   華虹NEC的0
            • 關(guān)鍵字: 華虹NEC  嵌入式存儲器  晶圓測試  

            IC封測 投顧敲鑼加碼

            •   今年IC封測產(chǎn)業(yè)出色,業(yè)者訂單、產(chǎn)能滿載,第二季不僅跳脫「五窮六絕」淡季困境,預(yù)期將有不少業(yè)者會在第二季里,出現(xiàn)挑戰(zhàn)歷史新猷,引來券商與投顧研究報告中,紛紛建議客戶加碼封測族群。日前群益證券就叫進超豐(2441),目標(biāo)價上看45元;統(tǒng)一投顧也建議加碼欣銓,目標(biāo)價給予29元。   群益證券指出,超豐2月受到工作天數(shù)減少影響,營收較1月下滑17.1%,但農(nóng)歷年后,消費性電子、低價游戲及玩具產(chǎn)品市場開始回溫,MCU出貨量增加,預(yù)估3月營收有機會回到9億元以上水平,再挑戰(zhàn)歷史新高。第二季進入消費性電子旺季,
            • 關(guān)鍵字: IC封測  晶圓測試  

            IC封測 投顧敲鑼加碼

            •   今年IC封測產(chǎn)業(yè)出色,業(yè)者訂單、產(chǎn)能滿載,第二季不僅跳脫「五窮六絕」淡季困境,預(yù)期將有不少業(yè)者會在第二季里,出現(xiàn)挑戰(zhàn)歷史新猷,引來券商與投顧研究報告中,紛紛建議客戶加碼封測族群。日前群益證券就叫進超豐,目標(biāo)價上看45元;統(tǒng)一投顧也建議加碼欣銓(3264),目標(biāo)價給予29元。   群益證券指出,超豐2月受到工作天數(shù)減少影響,營收較1月下滑17.1%,但農(nóng)歷年后,消費性電子、低價游戲及玩具產(chǎn)品市場開始回溫,MCU出貨量增加,預(yù)估3月營收有機會回到9億元以上水平,再挑戰(zhàn)歷史新高。第二季進入消費性電子旺季,
            • 關(guān)鍵字: IC封測  晶圓測試  

            惠瑞捷推出零空間占用的低成本測試系統(tǒng)V101

            •   半導(dǎo)體測試公司惠瑞捷半導(dǎo)體科技有限公司日前針對晶圓測試和集成電路、微控制器的成品測試推出了一款新型測試系統(tǒng)V101。V101滿足了這些芯片的超低成本要求,以及緩解了日益增長的上市時間壓力。   V101測試系統(tǒng)將于2009年7月14日-16日在美國加利福尼亞州舊金山市莫斯克尼會議中心舉行的SEMICON WEST展覽會上展出。   惠瑞捷副總裁暨ASTS事業(yè)部總經(jīng)理魏津博士表示:“V101首次讓惠瑞捷成熟的測試技術(shù)專業(yè)知識惠及這一細(xì)分市場。這一成本敏感型市場要求測試方案以最低的測試成本
            • 關(guān)鍵字: 惠瑞捷  集成電路  晶圓測試  微控制器  測試系統(tǒng)  V101  
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            晶圓測試介紹

            晶圓測試是對晶片上的每個晶粒進行針測,在檢測頭裝上以金線制成細(xì)如毛發(fā)之探針(probe),與晶粒上的接點(pad)接觸,測試其電氣特性,不合格的晶粒會被標(biāo)上記號,而后當(dāng)晶片依晶粒為單位切割成獨立的晶粒時,標(biāo)有記號的不合格晶粒會被洮汰,不再進行下一個制程,以免徒增制造成本。 在晶圓制造完成之后,晶圓測試是一步非常重要的測試。這步測試是晶圓生產(chǎn)過程的成績單。在測試過程中,每一個芯片的電性能力和電路機 [ 查看詳細(xì) ]

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