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損壞過(guò)應(yīng)力分析
損壞過(guò)應(yīng)力分析 文章 進(jìn)入損壞過(guò)應(yīng)力分析技術(shù)社區(qū)
你的電源IC是如何失效的？電源IC損壞過(guò)應(yīng)力分析
- 在我們項(xiàng)目開(kāi)發(fā)和產(chǎn)品量產(chǎn)過(guò)程中總是會(huì)出現(xiàn)一些 IC 損壞的現(xiàn)象，通常要想找出這些 IC損壞的根本原因并不總是很容易。有些偶發(fā)性的損壞很難被重現(xiàn)，這時(shí)的難度就會(huì)更大。而且有些時(shí)候 IC 的失效表現(xiàn)簡(jiǎn)直就是破壞性的，可能IC已經(jīng)被燒得一塌糊涂，即使求助IC原廠分析，往往也不一定能找出失效的根本原因，出現(xiàn)這種情況，作為工程師的你估計(jì)頭皮要感覺(jué)到陣陣發(fā)麻了。電源 IC 的失效常常是其輸入端受到電氣過(guò)應(yīng)力（ EOS）的結(jié)果。在很多情況下，器件失效的原因都是輸入電壓太高了。本文對(duì)電源 IC 輸入端 ESD
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損壞過(guò)應(yīng)力分析介紹
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歡迎您創(chuàng)建該詞條，闡述對(duì)損壞過(guò)應(yīng)力分析的理解，并與今后在此搜索損壞過(guò)應(yīng)力分析的朋友們分享。 創(chuàng)建詞條
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