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手機(jī)常見(jiàn)問(wèn)題
手機(jī)常見(jiàn)問(wèn)題 文章 進(jìn)入手機(jī)常見(jiàn)問(wèn)題技術(shù)社區(qū)
手機(jī)電磁兼容測(cè)試常見(jiàn)問(wèn)題那些事兒
- 本文針對(duì)手機(jī)電磁兼容測(cè)試中經(jīng)常出現(xiàn)的問(wèn)題，包括靜電放電抗擾度試驗(yàn)、電快速瞬變脈沖群抗擾度試驗(yàn)、輻射騷擾及傳導(dǎo)騷擾性能測(cè)試中經(jīng)常發(fā)現(xiàn)的問(wèn)題進(jìn)行了分析，并提出了相應(yīng)的改善手機(jī)電磁兼容性能的建議。1、靜電放電
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手機(jī)常見(jiàn)問(wèn)題介紹
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歡迎您創(chuàng)建該詞條，闡述對(duì)手機(jī)常見(jiàn)問(wèn)題的理解，并與今后在此搜索手機(jī)常見(jiàn)問(wèn)題的朋友們分享。 創(chuàng)建詞條
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