一種直接測量運算放大器輸入差分電容的方法

• 輸入電容可能會成為高阻抗和高頻運算放大器(op amp)應(yīng)用的一個主要規(guī)格。值得注意的是，當(dāng)光電二極管的結(jié)電容較小時，運算放大器的輸入電容會成為噪聲和帶寬問題的主導(dǎo)因素。運算放大器的輸入電容和反饋電阻在放大器的響應(yīng)中產(chǎn)生一個極點，從而影響穩(wěn)定性并增加較高頻率下的噪聲增益。因此，穩(wěn)定性和相位裕量可能會降低，輸出噪聲可能會增加。實際上，以前的一些CDM（差模電容）測量技術(shù)依據(jù)的是高阻抗反相電路、穩(wěn)定性分析以及噪聲分析。這些方法可能會非常繁瑣。在諸如運算放大器之類的反饋放大器中，總有效輸入電容由CDM與負輸入共
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