存儲器數(shù)據(jù) 文章 進入存儲器數(shù)據(jù)技術(shù)社區(qū)
淺析存儲器數(shù)據(jù)的軟誤差率(SER)問題
- 軟誤差率(SER)問題是于上個世紀(jì)70年代后期作為一項存儲器數(shù)據(jù)課題而受到人們的廣泛關(guān)注的，當(dāng)時DRAM開始呈現(xiàn)出隨機故障的征兆。隨著工藝幾何尺寸的不斷縮小，引起失調(diào)所需的臨界電荷的減少速度要比存儲單元中的電荷聚
- 關(guān)鍵字： SER 存儲器數(shù)據(jù) 軟誤差
AT24系列存儲器數(shù)據(jù)串并轉(zhuǎn)換接口的IP核設(shè)計
- 介紹用VHDL語言設(shè)計該存儲器數(shù)據(jù)串并轉(zhuǎn)換接口的IP核，從而通過硬件（FPGA或其他可編程芯片）實現(xiàn)AT24系列存儲器與8位微處理器之間的并行通信。
- 關(guān)鍵字： AT 24 存儲器數(shù)據(jù) 串并轉(zhuǎn)換
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存儲器數(shù)據(jù)介紹
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