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	失效分析
            

            
	
            
    	
            
    	  	
            
              	
                                
            
                  

                                
            
                    
            可靠性失效分析常見思路（二）
            
                                                            
              
                    	
            • 2.3 失效樹分析法　　失效樹分析法是一種邏輯分析方法。邏輯分析法包括事件樹分析法(簡稱ETA)、管理失誤 ...
              • 
                    	                        
            • 關(guān)鍵字：
                        可靠性  失效分析                          
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            可靠性失效分析常見思路（一）
            
                                                            
              
                    	
            • 失效分析在生產(chǎn)建設(shè)中極其重要,失效分析的限期往往要求很短,分析結(jié)論要正確無誤,改進措施要切實可行。　　 ...
              • 
                    	                        
            • 關(guān)鍵字：
                        可靠性  失效分析                          
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            IC故障診斷及失效分析:發(fā)現(xiàn)事實避免臆測
            
                                                            
              
                    	
            • 摘要：對一個復(fù)雜的設(shè)備進行故障診斷的時候，知識儲備是最重要的。我們想要的并且需要去了解相關(guān)的一些問題。它 ...
              • 
                    	                        
            • 關(guān)鍵字：
                        IC故障  失效分析                          
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            線路板的失效分析
            
                                                            
              
                    	
            • 你是否長時間糾纏于線路板的失效分析?你是否花費大量精力在樣板調(diào)試過程中?你是否懷疑過自己的原本正確的設(shè) ...
              • 
                    	                        
            • 關(guān)鍵字：
                        線路板  失效分析                          
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            對使用銅絲鍵合的功率MOSFET進行失效分析
            
                                                            
                                        
              
                    	
            • 摘要：由于銅絲鍵合可以替代金鍵合，價格又便宜，正在被越來越多地應(yīng)用到微電子元器件當(dāng)中。目前的情況表明銅是可行的替代品，但是證明其可靠性還需要采用針對銅絲鍵合工藝的新型失效分析(FA)技術(shù)。
              • 
                    	                        
            • 關(guān)鍵字：
                        銅絲鍵合  MOSFET  金鍵合  失效分析  金屬層  201308                          
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            某光電裝備電機驅(qū)動電路失效分析
            
                                                            
              
                    	
            • 摘要：驅(qū)動電路的性能很大程度上影響整個系統(tǒng)的工作性能。驅(qū)動電路的設(shè)計中主要考慮功能和性能等方面的因素。本文首先介紹了某平臺的電機驅(qū)動電路，然后就實際工作及實驗中驅(qū)動電路出現(xiàn)的失效信息作以分析，對問題進
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            • 關(guān)鍵字：
                        驅(qū)動電路  失效分析  H橋  PWM                          
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            抗輻射晶體管3DK9DRH的貯存失效分析
            
                                                            
              
                    	
            • 為了找到并糾正抗輻射晶體管3DK9DRH貯存失效的原因，利用外部檢查、電性能測試、檢漏、內(nèi)部水汽檢測、開封檢查等試驗完成了對晶體管3DK9DRH的一種貯存失效分析。結(jié)果表明晶體管存在工藝問題，內(nèi)部未進行水汽控制，加上內(nèi)部硫元素過高，長期貯存后內(nèi)部發(fā)生了氧化腐蝕反應(yīng)，從而導(dǎo)致晶體管功能失效。對此建議廠家對晶體管的生產(chǎn)工藝進行檢查，對水汽和污染物如硫元素等加以控制，及時剔除有缺陷的晶體管。
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            • 關(guān)鍵字：
                        3DK9DRH  輻射  晶體管  失效分析                            
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            熱阻測試原理與失效分析
            
                                                            
              
                    	
            • 文中通過熱阻的測試原理分析和實際案例，分別從熱阻測試條件、控制限、上芯空洞、傾斜、芯片內(nèi)阻等幾個方面，全面地闡述對熱阻測試結(jié)果的影響，并通過數(shù)據(jù)統(tǒng)計形成圖表，較為直觀明了，總結(jié)出熱阻測試失效的各種可能原因。
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            • 關(guān)鍵字：
                        熱阻測試  原理  失效分析                            
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	共23條
	2/2			«
														1																2								
	
            
		                
            
	               	
            
                
            
        	
            
            
            
        
            
	
            
	
	
            

            

            
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