單片機(mcu) 文章 進入單片機(mcu)技術(shù)社區(qū)
2017嵌入式領(lǐng)域MCU四大新變化
- 嵌入式系統(tǒng)設(shè)備是應(yīng)用最廣泛的產(chǎn)品,小到玩具、穿戴產(chǎn)品大到復(fù)雜的工業(yè)、軍工宇航設(shè)備,按照標準定義,嵌入式系統(tǒng)就是以應(yīng)用為中心,以計算機技術(shù)為基礎(chǔ),將應(yīng)用程序和操作系統(tǒng)與計算機硬件集成在一起,能夠獨立工作,而且軟硬件均可裁減的專用計算機系統(tǒng)。簡單地說,就是系統(tǒng)的應(yīng)用軟件與系統(tǒng)的硬件一體化的設(shè)備。廣義上可以認為,凡是帶有微處理器、微控制器的專用軟硬件系統(tǒng)都可以稱為嵌入式系統(tǒng)。從狹義上講,更加強調(diào)那些使用嵌入式微處理器構(gòu)成獨立系統(tǒng),具有自己的操作系統(tǒng),并且具有某些特定功能的系統(tǒng)。隨著智能化的深入,嵌入式系統(tǒng)發(fā)
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采用555定時器和單片機的RC測量系統(tǒng)設(shè)計方案
- 本文介紹了一種基于555定時器和單片機的數(shù)顯式電阻和電容測量系統(tǒng)設(shè)計方案。該系統(tǒng)利用555和待測電阻或電容組成多諧振蕩器,通過單片機測量555輸出信號的周期,根據(jù)周期與待測電阻或電容的數(shù)學(xué)關(guān)系計算出電阻或電容值,再將之在LCD1602上顯示出來。最后仿真結(jié)果表明該測量系統(tǒng)具有結(jié)構(gòu)簡單,方便實用等優(yōu)點,能夠測量一定范圍內(nèi)的電阻和電容值?! ?.引言 在電子儀器、儀表的制造及使用行業(yè),有大量的印刷電路板需要調(diào)試、測量與維修,需要對電阻電容的數(shù)值進行測試?! ”疚慕榻B了一種基于AT89C51單片機和555
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如何沖出MCU市場?論中國芯制勝方法
- MCU作為一個成熟的芯片類型,其市場競爭一直非常激烈,特別是在ARM推出的Cortex M系列內(nèi)核之后,廠家對于實現(xiàn)產(chǎn)品的差異化以取得競爭優(yōu)勢就更加重視了。然而該如何更好地實現(xiàn)產(chǎn)品的差異化呢?記者采訪業(yè)界主流企業(yè)。 瑞薩電子(中國)有限公司中國通用解決方案中心市場部高級專家王均峰:MCU看似簡單,實際真正開始做的時候才會發(fā)現(xiàn)它有很高的門檻。首先,它對產(chǎn)品品質(zhì),如產(chǎn)品的壽命、抗靜電性能、電磁兼容性能等的要求很高,所以廠商想要切入這個市場,是有很多功課要做的。當(dāng)然ARM的出現(xiàn),給這個行業(yè)帶來一些變化
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汽車電子三大熱門方向的技術(shù)發(fā)展
- 本次專題邀請業(yè)界名家就新能源汽車、車聯(lián)網(wǎng)、傳統(tǒng)汽車三個方面分析了當(dāng)下汽車電子的發(fā)展、動態(tài)及未來走向。
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【E問E答】單片機RAM測試故障方法有幾種?
- 在各種單片機應(yīng)用系統(tǒng)中,芯片存儲器的正常與否直接關(guān)系到該系統(tǒng)的正常工作。為了提高系統(tǒng)的可靠性,對系統(tǒng)的可靠性進行測試是十分必要的。通過測試可以有效地發(fā)現(xiàn)并解決因存儲器發(fā)生故障對系統(tǒng)帶來的破壞問題。本文針對性地介紹了幾種常用的單片機系統(tǒng)RAM測試方法,并在其基礎(chǔ)上提出了一種基于種子和逐位倒轉(zhuǎn)的RAM故障測試方法?! ∫?、 RAM測試方法回顧 方法1:一種測試系統(tǒng)RAM的方法是分兩步來檢查,先后向整個數(shù)據(jù)區(qū)送入#00H和#FFH,再先后讀出進行比較,若不一樣,則說明出錯?! 》椒?:方法1并不
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【E課堂】一句話告訴你mcu和mpu有什么區(qū)別
- 處理器通常指微處理器、微控制器和數(shù)字信號處理器這三種類型的芯片。 微處理器(MPU)通常代表一個功能強大的CPU,但不是為任何已有的特定計算目 的而設(shè)計的芯片。這種芯片往往是個人計算機和高端工作站的核心CPU。最常見的微處理器是Motorola的68K系列和Intel的X86系列。 早期的微控制器是將一個計算機集成到一個芯片中,實現(xiàn)嵌入式應(yīng)用,故稱單片機(single chip microcomputer)。隨后,為了更好地滿足控制領(lǐng)域的嵌入式應(yīng)用,單片機中不斷擴展一些滿足控制要求的電路單元。目
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別讓你的單片機學(xué)習(xí)停留在流水燈水平
- 本人還是學(xué)生,現(xiàn)在大三,接觸單片機一年多以來,從最基礎(chǔ)的51開始,到更高級點的MSP430,一直到現(xiàn)在剛開始上手的STM32,編過的程序不算多,但加起來怎么也有上百個了,做過的東西仔細數(shù)數(shù),能拿出手來算算的上是個樣的也不下十個,算是小有所成吧?! 〉裉欤覅s發(fā)現(xiàn),這一年我一直在走一條歪路?! ∠日f一下情況吧,是這樣的,最近同學(xué)幾個合伙做個小項目,不算復(fù)雜,跟市面上的工程項目完全沒法比,用難再需要使用的一個芯片是老師給的,從沒用過,沒有歷程,至于一份電子版的數(shù)據(jù)手冊,一切的一切都只能是從頭開始,從底層
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單片機RAM測試故障方法有幾種?
- 在各種單片機應(yīng)用系統(tǒng)中,芯片存儲器的正常與否直接關(guān)系到該系統(tǒng)的正常工作。為了提高系統(tǒng)的可靠性,對系統(tǒng)的可靠性進行測試是十分必要的。通過測試可以有效地發(fā)現(xiàn)并解決因存儲器發(fā)生故障對系統(tǒng)帶來的破壞問題。本文針對性地介紹了幾種常用的單片機系統(tǒng)RAM測試方法,并在其基礎(chǔ)上提出了一種基于種子和逐位倒轉(zhuǎn)的RAM故障測試方法。 一、 RAM測試方法回顧 方法1:一種測試系統(tǒng)RAM的方法是分兩步來檢查,先后向整個數(shù)據(jù)區(qū)送入#00H和#FFH,再先后讀出進行比較,若不一樣,則說明出錯。 方法2:方法1并
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單片機(mcu)介紹
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歡迎您創(chuàng)建該詞條,闡述對單片機(mcu)的理解,并與今后在此搜索單片機(mcu)的朋友們分享。 創(chuàng)建詞條
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