尼得科精密檢測科技推出半導體測溫探針卡及支持高電壓的加壓結構探針卡

• 尼得科精密檢測科技株式會社（以下簡稱“本公司”）子公司尼得科 SV Probe 正式發(fā)售以下產(chǎn)品：①半導體設備溫度測量探針卡“TC（熱電偶）探針卡”、②可支持高電壓的探針卡“加壓結構探針卡”。近年來，電動汽車（EV）和工業(yè)設備等領域使用的功率半導體需求不斷增加，對高電壓、大電流功率半導體的檢測、特別是在高溫環(huán)境下進行更精確、高質量檢測的需求日益增長。① “TC 探針卡”半導體設備溫度測量探針卡“TC 探針卡”是搭載了應用熱電偶技術的探針“TC 探針”的產(chǎn)品，可以像現(xiàn)有技術一樣與電極 PAD 接觸，在進行晶
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