光學(xué)檢測 文章 進(jìn)入光學(xué)檢測技術(shù)社區(qū)
研華攜手Basler及Canonical 共探機(jī)器人發(fā)展的三大關(guān)鍵要素
- 5月11日，研華科技攜手合作伙伴Basler及Canonical成功舉辦“機(jī)器人發(fā)展的三大關(guān)鍵：視覺、神經(jīng)與大腦”主題在線論壇，與大家共同探討機(jī)器人發(fā)展的三大關(guān)鍵要素，本文帶您回顧會(huì)議精彩內(nèi)容！? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? &nbs
- 關(guān)鍵字： 研華嵌入式單板電腦 機(jī)器人 機(jī)器視覺 AI AI運(yùn)算 物流倉儲(chǔ) 無人工廠 自動(dòng)化生產(chǎn) AGV AMR AOI 光學(xué)檢測 視覺導(dǎo)航
光學(xué)檢測系統(tǒng)應(yīng)用于精密模具加工
- 臺(tái)灣近年來著墨于模具相關(guān)基礎(chǔ)技術(shù)發(fā)展逐漸減少，本研究運(yùn)用精度0.1 μm ATOS 3D光學(xué)掃描系統(tǒng)于精密模具進(jìn)行檢測與分析，檢測精密模具線切割與放電加工后的特征尺寸。在20幾年前的新北市大約有20,000家模具廠，而在20年后新北市的模具廠僅剩約有2,000家營業(yè)。模具是工業(yè)之母，模具產(chǎn)業(yè)對(duì)于一個(gè)國家的經(jīng)濟(jì)發(fā)展具有舉足輕重的地位，諸多國家均致力于模具業(yè)的發(fā)展，而從臺(tái)灣近年來著墨于模具相關(guān)基礎(chǔ)技術(shù)發(fā)展來看，顯見越來越少的趨勢，藉由本研究希冀能對(duì)臺(tái)灣模具業(yè)者在精密模具加工以及精密模具的尺寸精度控制有所幫助。
- 關(guān)鍵字： 光學(xué)檢測 精密模具
3D芯片時(shí)代將至 光學(xué)檢測設(shè)備應(yīng)用空間擴(kuò)大
- 美商陸得斯科技(RudolphTechnologies,Inc.)指出，到了3D晶片時(shí)代，矽鉆孔(TSV)、微凸塊(microbumping)等半導(dǎo)體制程技術(shù)越趨復(fù)雜，每一道程式的精密控制均開出新的檢測需求，預(yù)料光學(xué)檢測設(shè)備扮演角色依舊吃重，甚至將自表面量測等現(xiàn)行主流用途，開展出更大應(yīng)用空間。 光學(xué)檢測作為制程式控制制(processcontrol)的重要環(huán)節(jié)，無論是在半導(dǎo)體前段抑或后段制程，都扮演著決定成品可靠度的重要關(guān)鍵。隨著3D晶片時(shí)代箭在弦上，不僅晶片尺寸縮微，制程也更加精密，自動(dòng)光
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MVP 在SEMICON Taiwan展示Ultra 850G自動(dòng)光學(xué)檢測系統(tǒng)
- MVP在9月8日在2010年臺(tái)灣國際半導(dǎo)體展(SEMICON Taiwan)上推出Ultra 850G半導(dǎo)體、封裝和微電子自動(dòng)光學(xué)檢測系統(tǒng)。此次展覽將于2010年9月8日到10日在臺(tái)北世貿(mào)中心舉行，MVP位于 3D 集成電路和先進(jìn)封裝與檢測館內(nèi)的臺(tái)灣實(shí)密科技集團(tuán)D1148號(hào)展位。 近三年內(nèi)銷售超過140臺(tái)Ultra 850G的業(yè)績已經(jīng)確立了MVP作為自動(dòng)光學(xué)檢測系統(tǒng)領(lǐng)軍供應(yīng)商的地位。Ultra 850G是MVP提供的行業(yè)領(lǐng)先的自動(dòng)光學(xué)檢測工具系統(tǒng)中的最新成員。這一系統(tǒng)整合了封裝、模具、微電子等工
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二手設(shè)備交易升溫 國際設(shè)備廠狂裁員
- 全球設(shè)備廠裁員、縮編消息不斷，受景氣沖擊甚鉅，自2008年底，就開始R單(Recover、Remove，維修調(diào)整、搬遷)滿天飛，二手設(shè)備市場也開始加溫，低價(jià)設(shè)備為晶圓廠省下大筆支出，卻也讓設(shè)備廠的困境雪上加霜。 美國應(yīng)材(Applied Material)近1季來，裁員2,000人，幅度約為14%，量測大廠安捷倫3輪裁員精簡2,700人，并且退出自動(dòng)光學(xué)檢測(AOI)、自動(dòng)X光檢測(AXI)儀器市場;科林(Lam Research)、泰瑞達(dá)(Teradyne)也裁員上百人，而且值得注意的是，國際
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光學(xué)檢測介紹
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