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半導(dǎo)體測試聯(lián)盟(The Semiconductor Test Consortium Inc., STC)最近向外界宣布了開放式測試架構(gòu)規(guī)范的第一個草案版本OpenSTAR。 半導(dǎo)體測試聯(lián)盟成立于2002年,最初由日本自動......
本文將向您介紹運用National Instruments產(chǎn)品建立靈活的測功器測試平臺。 目錄: ......
Agilent公司今天發(fā)布適用于 Infiniium 54830系列數(shù)字存儲和混合信號示波器的新存儲器選件,從而使該系列成為具有業(yè)內(nèi)最深存儲器深度的示波器。這一新選件把Agilent專利MegaZoom技術(shù)與達(dá)128Mp......
本文簡要介紹了發(fā)動機(jī)控制器的功能和測試。 目錄: ......
對于需要為基于CAN總線的電子模塊和系統(tǒng)創(chuàng)建設(shè)計驗證、生產(chǎn)制造和性能測試系統(tǒng)的工程師而言,National Instruments(NI)公司的PXI平臺是測試和測量解決方案的理想選擇,因為它可以將在多種總線接口之間傳輸......
Agilent公司今天發(fā)布了適用于 Infiniium 54830系列數(shù)字存儲和混合信號示波器的新存儲器選件,從而使該系列成為具有業(yè)內(nèi)最深存儲器深度的示波器。這一新選件把Agilent專利MegaZoom技術(shù)與達(dá)128M......
2004年7月9日,旋極公司和中國科學(xué)院空間科學(xué)與應(yīng)用研究中心(簡稱空間中心)在北京科技大學(xué)逸夫樓聯(lián)合主辦的為期一周的關(guān)于“探月項目軟件測試”的培訓(xùn)圓滿結(jié)束。探月工程是由中國科學(xué)院歐陽院士及有關(guān)科學(xué)家根據(jù)其科學(xué)目標(biāo)和應(yīng)用......
Teradyne 公司主席兼CEO George Chamillard先生最近接受我刊結(jié)盟出版物Electronic News的專訪,話題主要集中在測試市場充滿痛苦的復(fù)蘇以及未來的市場機(jī)遇。下面則是這次訪談的節(jié)錄。 El......
摘 要: 給出一種數(shù)字集成電路(IC)測試系統(tǒng)的軟硬件設(shè)計方案。該系統(tǒng)基于自定義總線結(jié)構(gòu),可測試寬范圍電平。 關(guān)鍵詞: 數(shù)字集成電路測試;功能測試 隨著數(shù)字集成電路IC的廣泛應(yīng)用,測試系統(tǒng)就顯得越來越重要。在......
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