會(huì)議日程
| 時(shí)間 | 主題和內(nèi)容簡(jiǎn)介 | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
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| 13:30-14:00 | 簽到 | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
| 14:00-14:15 |
開(kāi)場(chǎng) |
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| 14:15-15:00 | 功率半導(dǎo)體器件動(dòng)態(tài)測(cè)試與可靠性測(cè)試——測(cè)試原理，方法和設(shè)備 演講嘉賓：王芳芳——泰克技術(shù)專家 |
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| 15:00-15:20 | 茶歇 | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
| 15:20-16:05 | 模擬芯片標(biāo)定的測(cè)試誤區(qū) 演講嘉賓：葉昊生——泰克技術(shù)專家 |
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| 16:05-16:50 | 基于第三代功率半導(dǎo)體的電源設(shè)計(jì)及產(chǎn)品開(kāi)發(fā)全流程測(cè)試方案 演講嘉賓：黃正峰——泰克技術(shù)專家 |
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| 16:50-17:00 | 抽獎(jiǎng) | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
