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            一種新的晶圓級1/f噪聲測量方法

            作者:黃麗華 時間:2009-08-31 來源:電子產品世界 收藏

              圖5. 漏極電流與柵極偏壓的關系

            本文引用地址:http://www.biyoush.com/article/97638.htm

              5. 結束語

              本文介紹了一種評測MOSFET 的晶圓級測量方法和配置方案。這種測量技術可以在晶圓上自動進行。由于這種配置方案能夠測出低于100Hz的低頻噪聲分量,因此能夠有效提取到MOSFET的。

              參考文獻

              [1]K.K. Hung, P. K. Ko, C. Hu, Y. C. Cheng, IEEE Transactions On Electron Devices, 37, pp.654-664 (1990)

              [2]H. Wong, Microelectronics Reliability, 43, pp.585-599 (2003)

              [3]A. Blaum, O. Pilloud, G. Scalea, J. Victory, F. Sischka, IEEE Int. Conference on Microelectronic Test Structures, 14, pp.125–130 (2001)


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