科利登設(shè)備用于高速串行總線測試
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科利登負責全球運營及SPG部(SoC Production Group)高級副總裁Jean-Luc Pelissier說:“從產(chǎn)品的特征分析到最終的封裝測試,千兆級的信號完整性需求,低噪聲和皮秒級的抖動控制和高精度測試都超出了傳統(tǒng)ATE所能達到的性能范圍。D-3208能幫助客戶應(yīng)對當今抖動測試的挑戰(zhàn)。事實上,它們已經(jīng)實現(xiàn)了比競爭機型更高的測量精度和性能。”
D-3208數(shù)字測試設(shè)備依靠真正的差分通道提高測試過程中的信號完整性。它包含可編程的jitter injection來測量抖動容限,這是當今那些包含了高速串行總線的高性能SoC器件的一個關(guān)鍵測試參數(shù)。D-3208能提供嵌入時鐘和源同步時鐘兩種測試方法。它能提供全面的基于協(xié)議的功能測試來應(yīng)對高速串行總線中的固有的非確定性測試。
D-3208與其它的Sapphire設(shè)備無縫地整合在一起,能為高速差分器件的測試通道提供高達3.2Gbps的測試解決方案,同時能使用傳統(tǒng)或者源同步的方式進行采樣。這些測試通道能在測試程序中進行配置,可以定義為16對1.6Gps的輸入或輸出通道或者2組8對3.2Gbps的輸入或輸出通道,進一步地提高了該設(shè)備的靈活性和性價比。
為了應(yīng)對測試中碰到的一些極具挑戰(zhàn)的問題,D-3208還擁有on-the-fly時序計算和糾錯功能,它能糾正一階(時鐘偏斜),二階(線性和邊沿類型)和三階錯誤源(邊沿臨界和數(shù)據(jù)相關(guān))到空前的0.6ps數(shù)字精度。它能提供極大的線性度和+/- 30ps的邊沿放置精度。這一不可匹敵的高性能進一步提升了Sapphire系統(tǒng)的優(yōu)勢,幫助客戶提高特征分析的結(jié)果和生產(chǎn)的良率。
關(guān)于Sapphire
Sapphire是基于NPower?結(jié)構(gòu)和XTOS?軟件的新一代ATE系統(tǒng)。與傳統(tǒng)的大型測試儀完全不同,Sapphire可提供極大靈活性的配置,并具有從DC到幾GHz的數(shù)字和模擬測試能力,支持結(jié)構(gòu)測試和功能測試,完全封裝的儀器選件可以自由的放置在測試頭的任何一個插槽。由于設(shè)計時就充分考慮了簡單性和低成本,Sapphire最終能達到高集成,小體積和低功耗。它的高帶寬總線可以在各儀器之間進行復雜的通信和精確的同步,進而提高各種配置下的性能。Sapphire能夠輕易地滿足一個大的性能范圍的要求,既可用于高性能器件的特征分析到又可用做低成本的產(chǎn)品測試,從而滿足IDM,fabless設(shè)計公司以及測試服務(wù)承包商等的各種需要。
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