美國國家儀器有限公司(National Instruments，簡稱NI)宣布在中國北京成功主辦第六屆 “中國PXI技術(shù)和應(yīng)用論壇” (PXI Technology & Application Conference，即PXI TAC)。近600位相關(guān)領(lǐng)域的工程師和技術(shù)人員到場參加會議。除了主辦商NI以外，八家國內(nèi)外知名的PXI供應(yīng)商如 Aeroflex、MAC Panel、VPC、Pickering，凌華科技以及北京中科泛華，上海聚星儀器，陜西海泰向到會觀眾展示了最新基于PXI的產(chǎn)品和解決方案。本屆活動還特地邀請到了PXI系統(tǒng)聯(lián)盟技術(shù)委員會主席暨NI研發(fā)總部首席工程師Mark Wetzel先生和清華大學(xué)汽車研究所副所長盧青春教授為此次會議作開幕主題演講。

圖1-觀眾聽講

　　去年P(guān)XI TAC盛會提出的以軟件為核心的模塊化系統(tǒng)架構(gòu)，順應(yīng)了主流的市場發(fā)展趨勢，已經(jīng)得到業(yè)內(nèi)廣泛的認可;今年，作為測試測量行業(yè)的領(lǐng)導(dǎo)者，NI基于該架構(gòu)進一步展望了2009自動化測試的應(yīng)用發(fā)展趨勢，包括多核技術(shù)下的并行測試; 基于FPGA的自定義儀器設(shè)計; 基于軟件無線電的射頻測試; 協(xié)議感知(Protocol-Aware)的半導(dǎo)體驗證與測試等，同時進一步將PXI平臺的應(yīng)用從測試領(lǐng)域延伸至控制、設(shè)計等領(lǐng)域?，F(xiàn)場整個會議的技術(shù)演講與產(chǎn)品展示中都體現(xiàn)了這五大趨勢的應(yīng)用。