Texas Instruments將在近日在東京舉行的USB Developers Conference上展示5Gbit/s傳輸測試芯片。據(jù)悉該技術(shù)可為新興的USB 3.0接口技術(shù)提高速度。

　　該測試芯片專為USB 3.0設(shè)計，可在超過4米的USB 3.0傳輸線上驅(qū)動及接收信號，并保持?jǐn)?shù)據(jù)的完整性。