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            泰克在09IDF上展示最新的高速串行測試解決方案

            —— 最新解決方案支持新興的SuperSpeed USB (USB3.0)、PCI Express 3.0、第三代串行ATA和10G以太網(wǎng)技術(shù)
            作者: 時間:2009-04-10 來源:電子產(chǎn)品世界 收藏

              中國北京, 2009年4月8日 – 全球領(lǐng)先的、測量和監(jiān)測儀器提供商--泰克公司日前宣布將在2009年4月8日北京富力萬麗酒店舉行的2009年英特爾信息技術(shù)峰會(IDF 2009 Beijing)上展示最新的高速串行解決方案。作為領(lǐng)先的先進(jìn)高速串行技術(shù)解決方案提供商,泰克將演示其為USB3.0、PCI Express 3.0、第三代串行ATA和10G以太網(wǎng)開發(fā)的尖端測試解決方案。

            本文引用地址:http://www.biyoush.com/article/93338.htm

              泰克在信號完整性及復(fù)雜的高速測量和分析中擁有業(yè)內(nèi)無可比擬的技術(shù)力量。英特爾公司最近授予了泰克首選優(yōu)質(zhì)供應(yīng)商(PQS)獎,以表彰其在2008年為英特爾作出的重要貢獻(xiàn)。泰克一直為英特爾提供驗證測試設(shè)備,幫助英特爾產(chǎn)品開發(fā)團(tuán)隊向市場上推出下一代產(chǎn)品。

              SuperSpeed USB (USB 3.0)一致性測試解決方案

              生產(chǎn)型SuperSpeed USB接口IC預(yù)計將在2010年初開始出貨。泰克USB測試解決方案為產(chǎn)品開發(fā)人員提供了一整套完善的工具,保證其物理層(PHY)設(shè)計滿足最新的USB規(guī)范。

              泰克SuperSpeed USB一致性測試解決方案基于多種儀器,包括實時、采樣、任意波形發(fā)生器等,提供了杰出的測量性能,滿足了高速串行標(biāo)準(zhǔn)需求。例如,DSA71254實時擁有五倍于串行信號時鐘速率的帶寬,這個“五階諧波”對眼圖分析具有關(guān)鍵性的意義。類似的,AWG7122B任意波形發(fā)生器提供了復(fù)雜的波形,包含著模擬傳輸路徑劣化效應(yīng)的壓力,支持接收機(jī)測試。這些硬件工具與專家應(yīng)用軟件配套使用,如DPOJET抖動和眼圖分析工具和SerialXpress高級抖動生成工具,為設(shè)計人員檢驗和調(diào)試設(shè)計提供了所需的工具。

              PCI Express 3.0、第三代串行ATA 和10G以太網(wǎng)測試解決方案

              PCI Express 3.0規(guī)范提供了一條8GT/s鏈路,通過數(shù)據(jù)加擾功能,使數(shù)據(jù)速率較2.0時提高一倍。憑借DSA72004B實時示波器、串行數(shù)據(jù)鏈路分析軟件、DPOJET抖動和眼圖分析工具及P7520 TriMode三模差分探頭,泰克為數(shù)據(jù)處理層、鏈路層和物理層測試提供了最強(qiáng)大、最完整的測試系列。

              第三代串行ATA存儲接口規(guī)范將最大傳送速度從3 Gb/s提高到6 Gb/s,為實現(xiàn)更高性能的存儲解決方案鋪平了道路,包括新興的固態(tài)驅(qū)動器和企業(yè)商務(wù)存儲需求。通過泰克AWG7000B任意波形發(fā)生器系列和泰克DSA/DPO70000B示波器系列,泰克為串行ATA Gen 3提供了業(yè)內(nèi)領(lǐng)先的物理層測試功能。

              隨著以太網(wǎng)標(biāo)準(zhǔn)被迅速采用,工程師們一直面臨著驗證物理層以太網(wǎng)設(shè)備和改善效率的壓力。泰克為模擬驗證、一致性測試和設(shè)備檢定提供了一整套完善的集成工具,包括10BASE-T、100BASE-TX、1000BASE-T和10GBASE-T技術(shù)。這套工具包括D



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