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            吉時(shí)利2009科研測試設(shè)備現(xiàn)場體驗(yàn)巡展在京啟動

            作者: 時(shí)間:2009-03-19 來源:電子產(chǎn)品世界 收藏

              美國俄亥俄州克里夫蘭,2009年3月18日訊:吉時(shí)利儀器公司(NYSE:KEI),作為新興測量解決方案的領(lǐng)導(dǎo)者,今日宣布將在中國啟動“吉時(shí)利2009中國科研測試設(shè)備現(xiàn)場體驗(yàn)巡回展示”,專門為高校和研究機(jī)構(gòu)搭建學(xué)、研和具體實(shí)踐操作及面對面交流的平臺。首場活動將于3月31日下午在北京麗亭華苑酒店三層鴻運(yùn)廳舉行,詳情請參見http://www..cn/edm/9/seminar/beijing/pr/ 。

            本文引用地址:http://www.biyoush.com/article/92601.htm

              本次活動中,吉時(shí)利將以涵蓋微弱信號/低電平測試、半導(dǎo)體測試及IV、測試等三大領(lǐng)域的多款儀器,現(xiàn)場提供大量的產(chǎn)品演示、精彩的技術(shù)講解和免費(fèi)的技術(shù)咨詢。與會者不但能了解到最新的技術(shù),更能即時(shí)解決在日常教學(xué)、生產(chǎn)、科研及工作中遇到的測試問題,還可以親手操作,現(xiàn)場咨詢遇到的技術(shù)難題。

              微弱信號/低電平測試解決方案

              六十余年來,吉時(shí)利在微弱信號測試和源產(chǎn)生方面一直處于世界領(lǐng)先水平,包括低電流/高阻測量、低電壓/低電阻測量等解決方案,提供電壓、電流、電阻、溫度、電容以及電荷等微弱電信號的測試,可用于材料研究實(shí)驗(yàn)室的導(dǎo)電測試以研發(fā)新的納米材料、原型和工藝過程,及工業(yè)界生產(chǎn)線測試。低電壓測量儀器、低電流測量儀器、開關(guān)和源,特別適用于光電器件、顯示器、汽車電子、軍事/航天等領(lǐng)域的有源和無源器件的高準(zhǔn)確度測量。

              此次活動,所用演示儀器包括具有代表性的皮安表、靜電計(jì)、源測量單元等解決方案,如6430型亞fA遠(yuǎn)程源表、6517A型靜電計(jì)、6514型靜電計(jì)、6485型皮安表、6487型皮安表/電壓源、2502型雙通道皮安表、6220型直流電流源、6221型交流和直流電流源、2182A型納伏表、2001/2002數(shù)字多用表等。

              半導(dǎo)體測試及IV解決方案

              憑借擁有無可匹敵的靈敏度和自動化測試的特性參數(shù)分析及測試系統(tǒng),吉時(shí)利成為半導(dǎo)體測試解決方案的領(lǐng)導(dǎo)者。吉時(shí)利的半導(dǎo)體測試方案具有多功能、可升級、可擴(kuò)展等特點(diǎn),包括自動參數(shù)測試系統(tǒng),晶片可靠性(WLR)系統(tǒng)和I-V/C-V測試系統(tǒng)等,專注于幫助客戶應(yīng)對不斷變化的新材料、新工藝和新結(jié)構(gòu)的挑戰(zhàn)??捎糜诓牧涎芯?、器件特性分析、可靠性測試和晶圓生產(chǎn)工藝的監(jiān)控。

              吉時(shí)利在本次活動中將演示4200型半導(dǎo)體特性分析系統(tǒng)(4200-SCS系統(tǒng)、4200-CVU)、自動特性分析組合(ACS)以及2635和2636型數(shù)字源表。4200-SCS系統(tǒng)以一套緊密集成的特征分析方案取代了多個(gè)分離的電子測試工具,非常適合于半導(dǎo)體技術(shù)研究、工藝開發(fā)、可靠性實(shí)驗(yàn)室/材料與器件研究實(shí)驗(yàn)室的材料研究,也適合于所有需要臺式直流或脈沖式測試儀器的場合。4200-CVU將C-V測試選件集成到4200型分析系統(tǒng)中,使用戶能夠在同一平臺上完成直流、脈沖和C-V的測量。自動特性分析組合(ACS) 用于搭建集成化的測試平臺,可根據(jù)用戶的測試需求量身定制,提供可配置的靈活測試方案。本部分還將結(jié)合數(shù)字源表演示吉時(shí)利獨(dú)有的測試腳本處理器(TSP) 技術(shù)。

              測試解決方案

              吉時(shí)利提供了全套的測試與測量解決方案,適用于手機(jī)、傳呼機(jī)、基站以及數(shù)字交換系統(tǒng)的測試,并能夠滿足最新的 WLAN , WiMAX, TD-SCDMA, WCDMA等對SISO 和MIMO 測試的需求,可用于產(chǎn)品設(shè)計(jì)、生產(chǎn)和QA/QC實(shí)驗(yàn)室。借助先進(jìn)的矢量信號分析儀、矢量信號發(fā)生器以及MIMO射頻測試系統(tǒng)等創(chuàng)新產(chǎn)品,吉時(shí)利為高速發(fā)展的無線測試領(lǐng)域提供最新的測量手段。利用SignalMeister軟件,工程師都可以通過基于框圖式的圖形用戶界面快速而方便地創(chuàng)建并分析信號。


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            關(guān)鍵詞: keithley 測試測量 射頻

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