圖2 “閉合的”射頻線路

　　由圖3可以看出，搭接片觸點(diǎn)通常較厚且不靈活。在“斷開”和“閉合”過程中，搭接片觸點(diǎn)和推桿進(jìn)行垂直運(yùn)動(dòng)，在搭接片觸點(diǎn)和中心導(dǎo)體之間不會(huì)產(chǎn)生摩擦力，因此稱為“無(wú)摩擦開關(guān)切換”。

　　圖3 傳統(tǒng)EM開關(guān)配合架構(gòu)

　　盡管這種設(shè)計(jì)能夠使機(jī)械驅(qū)動(dòng)裝置的壽命達(dá)到幾千萬(wàn)次，但仍有許多嚴(yán)重缺陷。搭接片觸點(diǎn)和中心導(dǎo)體之間的連續(xù)碰撞將會(huì)逐漸造成越來(lái)越大的磨損，并產(chǎn)生一些碎屑。這些碎屑以及長(zhǎng)期積累的灰塵和污染物會(huì)一起留在端頭上。結(jié)果，隨著時(shí)間的延長(zhǎng)，接觸電阻將會(huì)增加，從而使得插入損耗增加。這不一定會(huì)導(dǎo)致開關(guān)達(dá)不到其射頻技術(shù)指標(biāo)，但隨著時(shí)間的增加，將會(huì)對(duì)插入損耗可重復(fù)性產(chǎn)生巨大影響。在開關(guān)的整個(gè)壽命期內(nèi)，這些微粒會(huì)在中心導(dǎo)體的表面上不斷堆積，其隨機(jī)性意味著這種故障可能時(shí)斷時(shí)續(xù)，無(wú)法被檢測(cè)出來(lái)。導(dǎo)致這種不利結(jié)果的罪魁禍?zhǔn)渍菦]有彈性的搭接片觸點(diǎn)設(shè)計(jì)。因此，具有這種設(shè)計(jì)特性的開關(guān)達(dá)不到可重復(fù)性技術(shù)指標(biāo)或者根本沒有可重復(fù)性是很常見的事情。

　　圖4 微粒聚集現(xiàn)象