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      NanoPhotonics向ISMI出貨450mm晶圓檢測設(shè)備

      作者: 時(shí)間:2009-02-20 來源:SEMI 收藏
              據(jù)Semiconductor International網(wǎng)站報(bào)道,簽訂合約,將向出貨兩臺用于450mm的缺陷檢測設(shè)備。

              這兩臺設(shè)備分別是Reflex MC 450和BevelCam MC 450,兩臺設(shè)備將和450mm設(shè)備前端模塊一同集成于 450mm協(xié)同測試試驗(yàn)臺。

      本文引用地址:http://www.biyoush.com/article/91436.htm


      關(guān)鍵詞: NanoPhotonics ISMI 晶圓

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