KLA-Tencor 公司（納斯達(dá)克股票代碼：KLAC）今天針對硬盤驅(qū)動器基片與盤片高級缺陷檢查推出了 Candela 7100 系列。7100 系列建立在備受肯定且已量產(chǎn)化的 Candela 產(chǎn)品線基礎(chǔ)上，專為幫助制造商識別與分類諸如凹陷、凸起、微粒及隱藏缺陷等亞微米級關(guān)鍵缺陷而設(shè)計，可以提升良率，降低檢測的總成本。

　　KLA-Tencor 成長與新興市場 （GEM） 集團(tuán)副總裁 Jeff Donnelly 表示："Candela 7100 系列是我們光學(xué)表面分析技術(shù)的一個創(chuàng)新延伸，作為缺陷檢測與分類的創(chuàng)紀(jì)錄工具，深獲客戶認(rèn)同。憑借更高的靈敏度和分類能力，7100 系列的一體化解決方案旨在減少對其它工具的依賴性，降低我們客戶的成本，并縮短他們獲得成果的時間。"表面積（儲存單位）密度的持續(xù)增長推動了對更低表面污染水平、更平滑的磁盤表面、對更小缺陷尺寸的更強(qiáng)靈敏度的需求，以及提早在制程中控制特定缺陷類型的重要性。此外，隨著磁記錄頭飛行高度的降低，微小缺陷如今對良率的影響也越來越大。Candela 7100 系列擁有業(yè)界領(lǐng)先的靈敏度，堪為應(yīng)對這些業(yè)界挑戰(zhàn)的理想解決方案。

　　硬盤驅(qū)動器行業(yè)要不斷滿足客戶對更高性價比的需求，因此制造商必須要以更快的時間獲得成果，采取在統(tǒng)計學(xué)上更有效的決策，同時保持成本競爭優(yōu)勢。Candela 7100 降低了對眾多非生產(chǎn)工具與方法的依賴性，例如原子力、掃描電子與透射電子顯微鏡，以及電性測試。目前需要在眾多檢測工具上進(jìn)行的分析，現(xiàn)在都可在單獨(dú)一臺機(jī)器上以更快的速度和更低的成本完成。

　　Candela 7100 系列正在接受領(lǐng)先存儲技術(shù)公司日立環(huán)球存儲技術(shù)公司 （HGST） 的認(rèn)證。

　　KLA-Tencor 目前正在接受產(chǎn)品訂單。出貨計劃在十月份開始。

　　9 月 17-18 日在加州圣克拉拉市縣圣克拉拉會展中心舉行的 DISKCON USA 2008 展覽會上，KLA-Tencor 還將在第 115 號展位展出 Candela 7100 系列，以及為數(shù)據(jù)存儲行業(yè)提供的其它良率管理解決方案。