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            Mentor Graphics:降低功耗提出IC設計新挑戰(zhàn)

            ——
            作者: 時間:2007-11-23 來源:電子產(chǎn)品世界 收藏

              隨著能源問題的日益突出,低功耗IC已經(jīng)不是便攜產(chǎn)品的專利,節(jié)能降耗無疑成為整個電子行業(yè)的大趨勢,因此IC設計必須考慮降低功耗這個大趨勢,這無疑對軟件提供商提出了新的要求。

              當然,隨著制程工藝的發(fā)展,功耗自然會隨之降低,但這絕非降低功耗的唯一途徑。IC設計工程師越來越希望能通過設計過程繼續(xù)降低功耗,畢竟當前是一個“Gates are cheap,Power is expensive!”的時代,然而降低功耗卻并不是一件容易的事情。  
             
              首先,降低功耗必須從降低電流或者電壓兩者入手,而管理靜態(tài)電流必然涉及到使用雙閾值電壓門限(VTH)的設計優(yōu)化方法與電源門控技術。大多數(shù)設計會借助于設計優(yōu)化流程,因為它可以在性能和靜態(tài)泄漏泄漏功率之間取得折衷,而在軟件中則必須體現(xiàn)出對這種方法的支持。當然,技術解決僅僅是其中一部分問題,更重要的是與電源相關的Bug已經(jīng)成為僅此與邏輯錯誤之外硅芯片生產(chǎn)拖延的第二大問題,特別是考慮發(fā)哦電源對整個系統(tǒng)運行的重要性以及設計完成后進行門控仿真已經(jīng)太晚又太過昂貴,因此許多電源方面的錯誤是很難被完全發(fā)現(xiàn)的。

              因此,針對電源本身的Bug,采用O-In CDC(clock domain crossing)技術驗證時鐘邏輯,尋找仿真發(fā)現(xiàn)不了的Bug,隨著經(jīng)驗的積累,針對靜電流Bug采用Questa功率探測仿真技術驗證電源門控以及管理系統(tǒng)電源狀態(tài),以求在RTL之前發(fā)現(xiàn)Bug。

              “所有調查都指出驗證仍是設計周期的主要瓶頸,業(yè)界顯然必須采用新驗證方法,才有可能突破這個瓶頸?!?a class="contentlabel" href="http://www.biyoush.com/news/listbylabel/label/Mentor">Mentor 副總裁暨設計驗證與測試部門總經(jīng)理Robert Hum表示,“隨著Questa推出,設計人員將能使用最新的語言標準和方法,不但讓他們更快找出更多錯誤,還會提高驗證生產(chǎn)力?!?



            關鍵詞: Mentor Graphics EDA

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