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            用于通用X射線應用的晶圓級有源像素CMOS圖像傳感器

            ——
            作者:比利時賽普拉斯半導體公司 時間:2007-05-09 來源:EEPW 收藏

            摘要: 本文以使用標準技術和架構的傳感器為研究對象。該傳感器專為成像系統(tǒng)而設計,具有噪聲低和感光度高等特點。這種傳感器已使用標準0.35μm技術和8″晶圓得到生產(chǎn)。傳感器分辨率為每40 x 40μm2 面積3360 x 3348像素。其對角長度略大于190mm。本文對傳感器的圖紙設計、拼接圖和已得到開發(fā)的電子光學性能進行了論述。  
                  
            關鍵詞:,,,,噪聲,拼接  

            I.介紹 
              
            需要大面積光電探測器陣列的應用通常使用基于無定形光電探測器(即無定型硅或無定型硒)的固體靜態(tài)探測器,使設備的電子性能受到限制。最近幾年來,這類傳感器已在各種應用中得到了廣泛使用,如乳房X線照相術(mammography)、牙科X射線成像及通用放射線應用等。探測器陣列上部粘著的閃爍器將X射線轉(zhuǎn)換成可視光線,此可視光線可被探測器陣列感知并讀出。許多公司使用的高端X射線設備系統(tǒng)都以此類傳感器為基礎。雖然實踐證明無定型傳感器能夠產(chǎn)生高質(zhì)量圖像,但傳感器的性能仍受像素[1]和[2]讀噪聲的制約。無源像素的使用是產(chǎn)生這種制約的主要原因,但對于大面積陣列無定形硅處理技術來說,使用無源像素是為數(shù)不多的選擇之一。本文對使用有源像素、標準及商業(yè)0.35μm CMOS技術的8″CMOS的架構和性能進行了論述。這種傳感器最近已作為通用X射線應用的原型技術而得到開發(fā),其噪聲水平與現(xiàn)行無定形陣列設備的工業(yè)標準相比約低一個數(shù)量級。本文論述的技術通過拼接方法提供了一種靈活的解決方案,其分辨率上限約為每40 x 40μm面積 4200 x 3384像素,所對應設備尺寸約為13.4x13.5 cm2。上述設備較??;3360x3348像素,直徑為168mm。動態(tài)范圍大于80dB,電能消耗為210mW,電壓3.3V。傳感器為三邊可對接(buttable),允許2 x 2或2 x 3片化。全幅幀速率為8口模擬輸出10fps,在外部真相關雙取樣(CDS)的情況下為5fps。  

            II.傳感器架構  

            圖1為XXL的架構。這種傳感器基本上由8個片化小型圖像傳感器次陣列組成,每一次陣列擁有一個420 x 3348像素陣列。每一次陣列與其相鄰次陣列間都有電子連接,但都可獨立于其相鄰次陣列進行操作。利用這種方法,測試在無需全畫幅探針卡的情況下即可進行。一個次陣列包括x和y讀出、控制邏輯、模擬偏差以及輸出信道等。傳感器只擁有模擬輸出。芯片不包含ADC,取窗和二次取樣可通過外部控制完成。模擬偏差位于外部,通過調(diào)整偏差值可以改變功率消耗與帶寬的比值。在預設210mW、3.3V的電源供應下每秒產(chǎn)生10個全畫幅。

              
            Figure 1. Architecture XXL sensor and wafer picture  
            圖1. XXL傳感器架構及晶圓圖  
            Y shift registers + drivers:Y移位寄存器+驅(qū)動器  
            Pixel array:像素陣列  
            Sample and hold:取樣與保留  
            X multiplexers:X多路器  
            Digital buffers:數(shù)字緩沖器  
            Analog out:模擬輸出  
            Analog biasing:模擬偏差  

            III.像素架構  

            XXL傳感器使用的像素架構以傳統(tǒng)的3T有源像素架構為基礎。其他使用不同架構的像素也曾被納入考慮范圍,但都因潛在的良品率(yield)問題,或因所選技術不能提供合適的架構而未能入選。在產(chǎn)品開發(fā)中還采取了特別方法保護光電二級管不受X射線幅射的損害。這些方法的主要特點在于對由幅射損害引起的場漏進行控制。像素大小為40 x 40μm2,在所需讀出電子元件旁還含有若干偽金屬圖形以滿足代工生產(chǎn)(foundry)的“最小金屬密度”要求。

              
            Figure 2. Pixel layout and architecture of the XXL sensor  
            圖2. XXL傳感器像素布局和架構  
            reset:復位  
            select:選擇  
            輸出(列)  

            由于以3T架構為基礎,像素不支持片上真相關雙取樣以減少KTC噪聲的功能。但是傳感器允許通過使用恰當?shù)淖x出序列完成離片CDS的實施:復位后不久即讀出幀數(shù)據(jù),在X射線曝光前曝光并讀出第二幅幀數(shù)據(jù)。 {{分頁}}

             

            圖3. 傳感器讀出序列,用以完成離片CDS  
            X-ray pulse time:X射線脈沖時間  
            Dark reference frame readout:暗參考幀讀取  
            Exposed image readout:曝光圖像讀取  
            Image readout time:圖像讀取時間  

            IV.使用X射線照明的分析技術  

            XXL CMOS傳感器也可使用X射線照明進行分析。為了達到這個目的,開發(fā)者在硅片上安裝了CsI閃爍器。下列電子參數(shù)在X射線劑量達到175krad后又被重新評估。  

            放射線劑量達到175krad后,暗電流水平增加。可觀察到電流增加14x,進而導致在30℃條件下暗電流水平>100ke/秒。在總讀出時間為200ms(離片CDS)的條件下,這就意味著每獲取一幀的暗電流為20ke或40mV。值得注意的是,這一測量是在持續(xù)X射線照射后進行的,在一段恢復時間過后,測量結(jié)果又有很大改善(三天后減少20%)。 

              

            此外,我們還利用人像幻影拍攝了照片,下圖即為一例。很顯然,這一過程中的MTF(模傳函數(shù))由閃爍器照射到硅片上的光線的耦合質(zhì)量決定,因此使用正確連接在硅片上的閃爍器有望使MTF得到改善。

              

            圖4. 使用簡化版XXL傳感器拍攝的人類手腕照片。可以看出圖像上存在一處壞列(bad column)。  

            V. 拼接  

            晶圓級2D拼接布局是XXL傳感器的設計與制造面臨的主要挑戰(zhàn)之一,如圖5所示。共有四個主要區(qū)塊:
              
            R:垂直刻線和密封圈  
            C:角落刻線和密封圈  
            Pix:420 x 414像素陣列  
            Sens:讀出傳感器+水平刻線  

             

            刻線 晶圓  
            圖5. XXL傳感器拼接  

            邊緣小區(qū)R和C為完全對稱:它們包含有所需的傳感器左邊緣和右邊緣。Sens小區(qū)也是如此:圖中所示為設計的上部和下部。  




            表1. 區(qū)塊維度  


            傳感器的總分辨率為:x方向8*420=3360,y方向8*413+44=3348。傳感器尺寸約為135 x 101 mm2,對角長度為168mm??蓱糜谛酒淖钚鞲衅鞯姆直媛蕿?20 x 457像素,而適用于晶圓的最大傳感器分辨率為4200 x 3348像素(SENS區(qū)塊在x方向上10次重復)。也可進行其他設置,如:傳感器可包括一組PIX區(qū)塊2 x 2陣列。在這種情況下,傳感器將擁有840

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