Synopsys宣布珠海炬力已采用Synopsys DFT MAX掃描壓縮自動化解決方案實現(xiàn)其0.13微米系統(tǒng)級芯片(SoC)設計，使測試設備相關(guān)成本降低了90％。DFT MAX通過片上掃描數(shù)據(jù)壓縮，可顯著減少高質(zhì)量制造測試所需的測試時間和測試數(shù)據(jù)量?！?

　　珠海炬力首席技術(shù)官李邵川表示：“作為便攜式多媒體播放器（PMP）SoC的領(lǐng)先供應商，我們的產(chǎn)品設計廣泛應用于遍布世界各地的便攜式消費電子產(chǎn)品中。因此，我們的設計團隊需要易于使用而成熟的壓縮解決方案，可以降低我們下一代PMP SoC的測試成本。DFT MAX可與Synopsys Galaxy設計平臺流程實現(xiàn)緊密集成，使得我們迅速將之應用于百萬門級的設計當中。只需另加500個門，DFT MAX便可實現(xiàn)90％以上的壓縮率。正是基于以上考慮，我們最終決定在未來的SoC設計中采用DFT MAX?！?

　　標準的 stuck-at 測試樣本在檢測許多時間敏感性缺陷時不夠有效，因此半導體公司正在采用轉(zhuǎn)移延遲測試來發(fā)現(xiàn) 0.13 微米及以下工藝的缺陷。隨著設計的復雜程度的增加，利用兩種測試方法使測試一個器件所需的測試圖形的總量劇增。樣本數(shù)   
量和每個樣本測試數(shù)據(jù)量的膨脹，增加了每個器件所需的測試時間，形成了生產(chǎn)測試瓶頸。DFT MAX可自動執(zhí)行片上壓縮，不僅可顯著降低測試數(shù)據(jù)量和測試應用時間，同時也可將對硅片面積影響降至最低。

　　使用DFT MAX無需測試壓縮技術(shù)領(lǐng)域的專業(yè)技能。其僅適用于門唯一的適應性掃描架構(gòu)是現(xiàn)有解決方案中最面積有效的方案。適應性掃描架構(gòu)不使用復雜的順序狀態(tài)機進行壓縮/解壓縮，可以分散整個設計的測試邏輯，從而緩解布線擁塞并降低硅片面積成本。DFT MAX產(chǎn)品與Synopsys Galaxy Design Platform可以實現(xiàn)無縫連接，對可預測結(jié)果的時間影響微乎其微。