意法半導(dǎo)體(STMicroelectronics，簡稱ST)最新的硬件抽象層(HAL, Hardware Abstraction Layer)固件正式加入STM32 ARM® Cortex®-M內(nèi)核32位微控制器設(shè)計(jì)生態(tài)系統(tǒng)。新HAL固件是按照MISRA[1] C軟件開發(fā)指引及嚴(yán)格的ISO/TS16949汽車質(zhì)量系統(tǒng)管理標(biāo)準(zhǔn)設(shè)計(jì)開發(fā)。

　　這意味著嵌入式系統(tǒng)開發(fā)人員可以期待將意法半導(dǎo)體的低層驅(qū)動(dòng)程序和抽象應(yīng)用程序接口(API, Application Program Interfaces)導(dǎo)入到自己開發(fā)的固件發(fā)行版，使之集中精力在開發(fā)應(yīng)用，無需再花費(fèi)時(shí)間調(diào)試或重新驗(yàn)證直至底層驅(qū)動(dòng)的各種代碼。

　　HAL固件棧隨將與STMCube™開發(fā)平臺一起免費(fèi)提供給客戶，覆蓋STM32微控制器九大系列的全部產(chǎn)品。意法半導(dǎo)體的HAL開發(fā)過程完全依照CMM[2]模式，獲得外部認(rèn)證機(jī)構(gòu)審核認(rèn)定，HAL開發(fā)團(tuán)隊(duì)符合國際公認(rèn)的ISO/TS16949標(biāo)準(zhǔn)。

　　STM32 HAL固件經(jīng)過單元驗(yàn)證(unitary validation)和功能驗(yàn)證(functional validation)，兩項(xiàng)驗(yàn)證都是固件模塊級和系統(tǒng)級測試，采用為STM32微控制器專門訂制的驗(yàn)證方法，以確保認(rèn)證范圍比僅符合C標(biāo)準(zhǔn)的測試更為廣泛：

　　· 所有功能測試均使用了現(xiàn)有的所有參數(shù);

　　· 所有外設(shè)功能都在測試范圍;

　　· 固件模塊之間的系統(tǒng)級互動(dòng)(如關(guān)鍵時(shí)序)都進(jìn)行了功能測試。

　　驗(yàn)證過程包括硅前(pre-silicon)驗(yàn)證和硅后(post-silicon)驗(yàn)證兩個(gè)階段，首先在微控制器原型開發(fā)階段使用FPGA平臺研發(fā)、驗(yàn)證HAL，然后在實(shí)際晶片上進(jìn)行第二次驗(yàn)證。意法半導(dǎo)體還用了不同的工具鏈(IAR, Keil, GCC)測試HAL固件棧。新固件棧還被引入意法半導(dǎo)體的STM32CubeMX代碼生成工具，為功能測試又增加了一個(gè)級別。

　　因此，STM32Cube HAL固件棧讓嵌入式系統(tǒng)設(shè)計(jì)人員能夠更快地開發(fā)、更便捷地維護(hù)最終產(chǎn)品，確保公司在STM32 10年使用壽命承諾期內(nèi)擁有通過行業(yè)認(rèn)證、安全可靠、并提供全面維護(hù)的固件工具包。

　　[1] 電機(jī)工業(yè)軟件可靠性協(xié)會(huì)(MISRA, Motor Industry Software Reliability Association)開發(fā)的一套C編程語言軟件開發(fā)指引，以促進(jìn)嵌入式系統(tǒng)代碼的安全性、移植性和可靠性。

　　[2] 軟件能力成熟度模型(CMM, Capability Maturity Model)描述一個(gè)組織的軟件工程方法是如何升級發(fā)展的。