圖12顯示僅有一次失調(diào)校正的誤差。無需針對正弦和余弦的幅度失配、非線性度或正交性校正進(jìn)行額外調(diào)節(jié)。使用每個(gè)通道的峰峰值或平均值可確定失調(diào)值，因?yàn)樗灤┱麄€(gè)機(jī)械旋轉(zhuǎn)。從對應(yīng)通道中減去失調(diào)，以獲得線性傳感器響應(yīng)。最大誤差接近±0.2°，而該范圍內(nèi)的絕大部分誤差小于±0.1°。

　　圖12.僅針對失調(diào)進(jìn)行校正后的角誤差與機(jī)械角的關(guān)系

　　PCB布局考慮

　　CN-0368系統(tǒng)的PCB采用4層板堆疊而成，具有較大面積的接地層和電源層多邊形。

　　在任何注重精度的電路中，必須仔細(xì)考慮電路板上的電源和接地回路布局。PCB應(yīng)盡可能隔離數(shù)字部分和模擬部分。有關(guān)布局和接地的詳細(xì)論述，請參見MT-031指南;有關(guān)去耦技術(shù)的信息，請參見MT-101指南。

　　所有IC的電源應(yīng)當(dāng)用1μF和0.1μF電容去耦，以適當(dāng)抑制噪聲并減小紋波。這些電容應(yīng)盡可能靠近器件。對于所有高頻去耦，建議使用陶瓷電容。

　　電源走線應(yīng)盡可能寬，以提供低阻抗路徑，并減小電源線路上的毛刺效應(yīng)。通過數(shù)字地將時(shí)鐘及其它快速開關(guān)數(shù)字信號屏蔽起來，使之不影響電路板的其它器件。圖13為PCB的照片。

　　圖13. EVAL-CN0368-SDPZ板的照片

　　常見變化

　　如需1 MSPS以上采樣速率，應(yīng)考慮使用下列同步采樣ADC;

　　如需12位或14位以上的分辨率，可使用AD7655(1 MSPS時(shí)為16位)。

　　電路評估與測試

　　本電路使用EVAL-SDP-CB1Z系統(tǒng)演示平臺(SDP)板和EVAL-CN0368-SDPZ電路板。這兩片板具有120引腳的對接連接器，可以快速完成設(shè)置并評估電路性能。

　　EVAL-SDP-CB1Z板與CN0368評估軟件一同使用，捕獲EVAL-CN0368-SDPZ電路板的數(shù)據(jù)。

　　設(shè)備要求

　　需要以下設(shè)備：

　　帶USB端口和Windows XP(32位)、Windows Vista(32位)或Windows 7(32位)PC

　　EVAL-CN0368-SDPZ電路板

　　EVAL-SDP-CB1Z SDP板

　　6 V電源或壁式電源適配器

　　CN0368評估軟件

　　傳感器封裝處磁場強(qiáng)度不低于25 kA/m的釹磁體

　　開始使用

　　將CN0368評估軟件光盤放入PC，加載評估軟件。打開我的電腦，找到包含評估軟件光盤的驅(qū)動(dòng)器，打開Readme文件。按照Readme文件中的說明安裝和使用評估軟件。

　　功能框圖

　　圖14所示為測試設(shè)置的功能框圖。

　　圖14.測試設(shè)置框圖

　　設(shè)置

　　將EVAL-CN0368-SDPZ上的120引腳連接器連接到EVAL-SDP-CB1Z上的連接器。使用尼龍五金配件，通過120引腳連接器兩端的孔牢牢固定這兩片板。

　　在斷電情況下，將6 V直流管式插孔連接到J4連接器。將EVAL-SDP-CB1Z附帶的USB電纜連接到PC上的USB端口。此時(shí)請勿將該USB電纜連接到SDP板上的微型USB連接器。

　　將釹磁體直接放置在IC之上，或置于專為旋轉(zhuǎn)磁體而設(shè)計(jì)的夾具中，使IC和磁體的距離最短。

　　使磁場的其他來源遠(yuǎn)離IC很重要，因?yàn)槿魏坞s散磁場都會(huì)使傳感器輸出電壓產(chǎn)生誤差。

　　測試

　　為直流管式插孔、J4連接器上電。啟動(dòng)CN0368評估軟件，并通過USB電纜將PC連接到EVAL-SDP-CB1Z上的微型USB連接器。

　　一旦USB通信建立，就可以使用EVAL-SDP-CB1Z來發(fā)送、接收和捕捉來自EVAL-CN0368-SDPZ的串行數(shù)據(jù)。