美國國家儀器(National Instruments，簡稱NI) 作為致力于為工程師和科學(xué)家提供解決方案來應(yīng)對全球最嚴(yán)峻的工程挑戰(zhàn)的供應(yīng)商，今日宣布推出無線測試系統(tǒng)(WTS)，一款可大幅降低批量無線生產(chǎn)測試成本的解決方案。盡管面臨日益增加的無線測試復(fù)雜性，企業(yè)仍可以借助經(jīng)過測量速度優(yōu)化和具有并行測試功能的系統(tǒng)來自信地降低測試成本，數(shù)倍提高生產(chǎn)車間的生產(chǎn)能力。

　　“物聯(lián)網(wǎng)(IoT)等大趨勢將驅(qū)動更多的設(shè)備融合射頻和傳感器功能，過去此類設(shè)備的測試成本極其昂貴。 但是測試成本不應(yīng)成為工程師創(chuàng)新或產(chǎn)品具備經(jīng)濟可行性的絆腳石，”Frost & Sullivan公司的測量和儀器項目經(jīng)理Olga Shapiro表示， “為了維持未來的盈利能力，企業(yè)需要重新思考其無線測試方法，采用新的模式。 由于WTS是使用經(jīng)業(yè)界驗證的PXI平臺開發(fā)的，而且受到NI的專業(yè)技術(shù)支持，我們預(yù)期該系統(tǒng)將對物聯(lián)網(wǎng)產(chǎn)生重大的商業(yè)影響。”

　　WTS結(jié)合了最新的PXI硬件，為多標(biāo)準(zhǔn)、多DUT和多端口測試提供了一個統(tǒng)一平臺。 該系統(tǒng)結(jié)合TestStand無線測試模塊等靈活的測試序列生成軟件，可幫助制造商大幅提高并行測試多個設(shè)備時的儀器利用效率。 WTS可輕松集成到生產(chǎn)線中，提供了可立即運行的測試序列來測試采用Qualcomm和Broadcom芯片的設(shè)備、集成式DUT和遠(yuǎn)程自動化控制。 借助這些特性，用戶將可明顯看到其RF測試設(shè)備的效率大幅提升，從而進一步降低了測試成本。

　　“使用NI無線測試系統(tǒng)，我們可以在同一個設(shè)備上測試多種無線技術(shù)，包括藍(lán)牙、WIFI、GPS和蜂窩。”HARMAN/Becker汽車系統(tǒng)公司的Markus Krauss表示， “WTS和NOFFZ的RF測試工程專業(yè)知識幫助我們顯著減少了測試時間以及快速安裝和運行測試系統(tǒng)。”

　　WTS是NI基于PXI硬件和LabVIEW以及TestStand軟件開發(fā)的最新系統(tǒng)(2014年發(fā)布了半導(dǎo)體測試系統(tǒng))。 WTS可支持LTE Advanced、802.11ac和藍(lán)牙LE等無線標(biāo)準(zhǔn)，專用于WLAN接入點、手機、信息娛樂系統(tǒng)和其他包含蜂窩、無線連接和導(dǎo)航標(biāo)準(zhǔn)等多標(biāo)準(zhǔn)設(shè)備的生產(chǎn)測試。 WTS內(nèi)采用的軟件設(shè)計的PXI矢量信號收發(fā)儀技術(shù)為制造工業(yè)提供了出色的射頻性能以及可隨射頻測試需求變化而調(diào)整的平臺。

　　如需了解更多關(guān)于無線測試系統(tǒng)的信息，請訪問ni.com/wts。