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            EEPW首頁(yè) > 元件/連接器 > 新品快遞 > Fairchild大幅降低IGBT損耗,助力工業(yè)和汽車(chē)應(yīng)用中效率的提升

            Fairchild大幅降低IGBT損耗,助力工業(yè)和汽車(chē)應(yīng)用中效率的提升

            作者: 時(shí)間:2015-06-15 來(lái)源:電子產(chǎn)品世界 收藏

              全球領(lǐng)先的高性能功率半導(dǎo)體解決方案供應(yīng)商 (NASDAQ: FCS)大幅降低其第四代650V和1200V IGBT損耗,降幅達(dá)30%。采用工業(yè)和汽車(chē)市場(chǎng)中專(zhuān)為高/中速開(kāi)關(guān)應(yīng)用設(shè)計(jì)的新方案,提供了行業(yè)領(lǐng)先的性能水平,同時(shí)具有極強(qiáng)的閂鎖效應(yīng),確保了優(yōu)異牢固性和可靠性。將在2015 亞洲PCIM中演示各種應(yīng)用的測(cè)試結(jié)果和方案。

            本文引用地址:http://www.biyoush.com/article/275749.htm

              高級(jí)IHS分析師Victoria Fodale說(shuō)道:“制造商對(duì)于更先進(jìn)技術(shù)的IGBT非常感興趣,因?yàn)槟呐率荌GBT開(kāi)關(guān)損耗的微小下降也可幫助制造商提高產(chǎn)品效率。最大限度降低功率損耗必然是各種應(yīng)用領(lǐng)域達(dá)到最高效率的關(guān)鍵因素,包括電動(dòng)汽車(chē)、太陽(yáng)能系統(tǒng)、高效HVAC應(yīng)用以及工業(yè)變頻器。”

              Fairchild采用先進(jìn)的高密度孔距、自平衡晶胞結(jié)構(gòu)以及新的自對(duì)齊接觸技術(shù),在整個(gè)工作溫度范圍-40º C至175º C之間達(dá)到超高電流密度和卓越的動(dòng)態(tài)開(kāi)關(guān)性能。新設(shè)計(jì)使第四代IGBT具備極低的飽和電壓(Vce(sat) = ~ 1.65V)和低開(kāi)關(guān)損耗(Eoff = 5µJ/A)的權(quán)衡特性,幫助客戶(hù)提高系統(tǒng)效率。Fairchild還與新一代產(chǎn)品一同提供了功能強(qiáng)大的設(shè)計(jì)和仿真基礎(chǔ)結(jié)構(gòu)套件,并針對(duì)所有低/高電壓功率器件進(jìn)行了校準(zhǔn)。

              Fairchild的Thomas Neyer說(shuō):“Fairchild的新方案包括通過(guò)超細(xì)單元柵距設(shè)計(jì)實(shí)現(xiàn)的超高電子注入效率以及受新緩沖器結(jié)構(gòu)限制的空穴載流子的注入。這些優(yōu)勢(shì)顯著提高性能,我們的IGBT讓Fairchild 能夠?yàn)橹圃焐烫峁┬碌母咝Т蠊β士刂平鉀Q方案。”

              在6月25日周四12:30至14:00于上海世博展覽館的Floyer房間和會(huì)議中心,我們將在海報(bào)演示環(huán)節(jié)中介紹兩個(gè)關(guān)于IGBT的論文。

              - 《具有高性能和加強(qiáng)免閉鎖功能的第四代場(chǎng)截止IGBT》(演講人:Kevin Lee)

              - 《在感性負(fù)載開(kāi)關(guān)的低電流關(guān)斷瞬間,關(guān)于場(chǎng)截止IGBT (FS IGBT) VCE斜率的研究》 (演講人:Rafael Lim)

              Fairchild FS4 IGBT的產(chǎn)品系列詳情,將于2015年第四季度發(fā)布。更多內(nèi)容,包括詳細(xì)介紹Fairchild FS4 IGBT技術(shù)的白皮書(shū),可在Fairchild的 IGBT產(chǎn)品信息頁(yè)面找到。



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