系統(tǒng)設(shè)計(jì)

　　1、單次AD采樣時(shí)間以及兩次采樣的間隔時(shí)間都盡量長(zhǎng)些，能減少數(shù)據(jù)抖動(dòng)。每次采樣都要讀多次然后求平均。

　　2、PCB布線時(shí)，將該電路的電源其它電源分開走線，只和數(shù)字電源單點(diǎn)連接，且連接點(diǎn)盡可能靠近MCU。

　　3、如果發(fā)生部分地址丟失的情況，就量一下相關(guān)電阻的大小，看是否偏差過大。測(cè)焊在板上的電阻時(shí)要斷掉所有電源，撥碼全部斷開再測(cè)，否則會(huì)影響測(cè)量值。

　　4、注意MCU管腳內(nèi)部的干擾，需要把它設(shè)置成模擬輸入的形式，而且不能帶內(nèi)部上拉或下拉。

　　溫度特性

　　對(duì)串聯(lián)和并聯(lián)電路進(jìn)行高低溫測(cè)試，溫度范圍是-10℃~70℃，實(shí)驗(yàn)結(jié)果是-10℃的低溫對(duì)AD采集值幾乎沒影響，50℃~70℃下AD的波動(dòng)由±1增加到±2，但也不影響地址判斷。

　　調(diào)試經(jīng)驗(yàn)

　　1、查表算法是個(gè)難點(diǎn)，需要進(jìn)行反復(fù)調(diào)整，以保證0~31各個(gè)地址都能被正確識(shí)別，地址沒被修改時(shí)判斷出來的地址值也不能變動(dòng)。

　　2、電路的電源和地要處理好，不能和數(shù)字地鋪成一片，電源線要和其它供電器件分開走線，這些都是為了降低AD采樣值的波動(dòng)以及準(zhǔn)確性，每一個(gè)采樣到的值都應(yīng)該和理論計(jì)算值保持在至少±1的誤差內(nèi)。

　　3、需要驗(yàn)證底層的AD驅(qū)動(dòng)的正確性要做到采樣點(diǎn)接地時(shí)，AD為0，接電源正時(shí)，AD為滿量程，10位的話是1023，12位的是4095。

　　4、I/O口的干擾是較難發(fā)現(xiàn)的問題，需要查清楚芯片內(nèi)部I/O口的設(shè)置，是否自帶了內(nèi)部上拉或下拉，這里的上拉電阻和下拉電阻會(huì)影響電路的輸出電壓。