T/R組件波束控制測試方案設計
4設計實例
本文引用地址:http://www.biyoush.com/article/272060.htm實驗中,預設輸入信號通道16位,頻率范圍為0~40MHz,輸入電平范圍為-5~8V可調,輸出信號通道64位可選,這些能滿足大部分常規(guī)波控電路的測試要求。
4.1驅動電路
驅動電路選用Intersil公司的EL7457,該電路最大驅動能力可達到2A,4路輸入4路輸出,最高頻率可達到40MHz,輸出高電平范圍為-2~16.5V,輸出低電平范圍為-5~8V,完全滿足常規(guī)波控電路輸入要求。驅動電路原理如圖4所示,其中,R1~R4是串接的小電阻,用于減小輸出波形過沖,L和H為設置的輸出高、低電平值,這樣設計的好處是輸入高、低電平可調,且不影響輸入時序。

圖4驅動電路原理
4.2比較器
比較器選用Maxim公司推出的一款高速、低壓差比較器MAX901,可以雙電源供電,也可以單電源供電,輸出電壓可以根據(jù)用戶要求進行設置。電路外圍設計如圖5所示。CHV為比較電壓設置,CH1~CH4為被測器件輸出端口,F(xiàn)CH1~FCH4為FPGA接收端口。通過設置MAX901比較電壓,可以測試器件不同電壓輸出時的邏輯功能。D1~D4的作用是指示,方便調試。

圖5比較器電路原理
4.3可編程部分
可編程器件選用Xilinx的一款低端產品XC3S50AN,這是因為測試中僅利用豐富的IO資源和向量存儲,沒有太高的要求,選用低端產品就足夠了。圖6所示為JTAG的配置,用于FPGA程序下載。電源模塊電路原理如圖7所示,只需兩種電源,內核為1.2V,輔助電壓及端口電壓設置成3.3V.

圖6 JTAG配置

圖7電源模塊電路原理
時序仿真可以采用兩個可編程器件,一個用于數(shù)據(jù)發(fā)送及開關控制,另一個用于數(shù)據(jù)接收及功能判斷。圖8所示為數(shù)據(jù)發(fā)送FPGA的仿真波形,S為FPGA輸出開關控制信號;delay_sn,delay_clk,delay_clr三個信號為開關控制輸入信號,實現(xiàn)將串行數(shù)據(jù)并行輸出;P為FPGA輸出給被測器件的信號,由dutin_r,dutin_s,dutin_clk,dutin_clr,IN控制輸入??梢钥闯?,用FPGA產生時序是比較理想的選擇。

圖8輸入時序仿真
圖9所示為數(shù)據(jù)接收FPGA仿真波形。CH接收存儲被測器件邏輯值,datain,dataclk,address用于設置理想邏輯值。PASS,F(xiàn)AIL為輸出狀態(tài)指示。

圖9功能判斷仿真
4.4測試結果
圖10所示為按本文方案制作的波控電路測試系統(tǒng)照片。左上圖為兩個FPGA,一個用于數(shù)據(jù)發(fā)送,一個用于數(shù)據(jù)接收判斷;右上圖為系統(tǒng)電源模塊,下圖為系統(tǒng)組合。該系統(tǒng)可實現(xiàn)16位以內輸入,64位以內輸出的常規(guī)波束控制電路的全參數(shù)測試。表2列出一款32位T/R組件波束控制電路實測結果。其中,比較器的比較電平設置為4.8V和0.2V,因此,輸出高電平≥4.8V,低電平≤0.2V.

圖10波控電路測試系統(tǒng)實物照片

表2測試結果
5結論
波束控制電路專用性強,輸入輸出接口較多,時序嚴格,邏輯功能復雜,其測試較為復雜。本文提出一種測試方案。該方案簡單,易于實現(xiàn),充分利用FPGA豐富的IO資源及可編程特點,很好地解決了波束控制電路測試中的難點。同時,該方法易于實現(xiàn)常規(guī)波控電路測試系統(tǒng)的通用性,僅僅需要定義好測試系統(tǒng)轉接部分的輸入接口,以及編寫不同的發(fā)送和接收程序,便可實現(xiàn)常規(guī)波控電路的通用性。
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