新型光學(xué)觸摸屏的實現(xiàn)
求出的Ai(i=1,2,…,5)存在誤差,需要進(jìn)一步優(yōu)化。設(shè)第i幅圖 17個點的像素數(shù)誤差之和為εi。對于每一幅圖,把第一幅圖對應(yīng)的內(nèi)參數(shù)矩陣A1和該幅圖中點的相應(yīng)坐標(biāo)帶入式(2-4)求取εi,其表達(dá)式如下:
在對五幅圖的Rti 的參數(shù)ri、ti1、ti2 進(jìn)行最優(yōu)化之后,設(shè) 5幅圖的所有點的像素數(shù)誤差加之和為ε,其表達(dá)式如下:
2.3.2 畸變參數(shù)的求取
求取畸變參數(shù)最優(yōu)解也用Levenberg-Marquardt優(yōu)化方法,本文畸變參數(shù)的求取僅僅考慮了徑向畸變,選取的徑向畸變的數(shù)學(xué)模型為:
φ =k1 r+k2 r3+k3 r5 (2-7)
其中r=|ud| 為像點到圖像中心的距離,k1 、k2 、k3為徑向畸變系數(shù),仍然用這五幅圖的數(shù)據(jù)求取最優(yōu)的 k1 、k2 、k3。設(shè)第i(i=1,2,…,5)幅圖
3 結(jié)論
實現(xiàn)的新型光學(xué)觸摸屏能夠克服目前市售觸摸屏存在的設(shè)計缺陷,解決了存在觸摸死區(qū)和假兩點等問題。提出了求取攝像頭內(nèi)參數(shù)的方法,該方法簡單易行,操作性強(qiáng)。求取內(nèi)參數(shù)的過程中多次Levenberg-Marquardt優(yōu)化,Levenberg-Marquardt優(yōu)化算法的優(yōu)越性決定了所求參數(shù)的高精確度。
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