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            EEPW首頁(yè) > 測(cè)試測(cè)量 > 設(shè)計(jì)應(yīng)用 > 涂鍍層的無(wú)損檢測(cè)方法

            涂鍍層的無(wú)損檢測(cè)方法

            作者: 時(shí)間:2013-02-26 來(lái)源:網(wǎng)絡(luò) 收藏


            采用電渦流原理的測(cè)厚儀,原則上所有導(dǎo)電體上的非導(dǎo)電體覆層均可測(cè)量,如航天航空器表面、車(chē)輛、家電、鋁合金門(mén)窗及其他鋁制品表面的漆,塑料涂層及陽(yáng)極氧化膜。有些特種用途如某種金屬上的金剛石鍍層及其它噴鍍不導(dǎo)電層。覆層材料也可以有一定的導(dǎo)電性,通過(guò)校準(zhǔn)同樣也可以測(cè)量,但要求兩者的導(dǎo)電率之比至少相差3~5倍以上(如銅上鍍鉻)。

            校準(zhǔn)的原則是沒(méi)有覆層的校準(zhǔn)試樣與被測(cè)物的基材應(yīng)有:成分相同,厚度相同(主要在于厚度小于儀器規(guī)定的最小值約0.5mm以下時(shí)),有相同的曲率半徑,如被測(cè)面積小于儀器技術(shù)參數(shù)的要求(直徑約20mm以下),還應(yīng)有相同的被測(cè)面積。如覆層含有導(dǎo)電成份,校準(zhǔn)試樣的覆層也應(yīng)與被測(cè)物的覆層有相同的導(dǎo)電性能。校準(zhǔn)試樣的覆層經(jīng)過(guò)其它(包括有損測(cè)試方法)測(cè)試后標(biāo)定厚度或用已標(biāo)定的校準(zhǔn)薄片做覆層,就可以在其上面按說(shuō)明書(shū)的方法校準(zhǔn)測(cè)厚儀。校準(zhǔn)后就可以在被測(cè)產(chǎn)品上進(jìn)行快速。校準(zhǔn)薄片一般用三醋酸酯薄膜或經(jīng)苯酚樹(shù)脂浸漬過(guò)的硬紙。

            微電腦測(cè)厚一般有多個(gè)校準(zhǔn)值存貯。隨著被測(cè)產(chǎn)品的不同位置、材料變化、更換測(cè)頭等均可分別校準(zhǔn)并存貯。實(shí)際使用時(shí)直接調(diào)用各校準(zhǔn)值,就無(wú)須重新調(diào)校了。這即是所謂“速換基準(zhǔn)”。大大提高了檢測(cè)效率。

            測(cè)試數(shù)據(jù)在智能化儀器里一般可以存貯、打印、計(jì)算統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù)供分析,還有可以打印直方圖的功能使覆層厚度分布一目了然。如設(shè)置了上下極限還可以使統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù)更加準(zhǔn)確,測(cè)量時(shí)所有超限的點(diǎn)都有聲響提醒注意并不取入做統(tǒng)計(jì)計(jì)算用。

            影響測(cè)量值的因素與解決方法

            使用測(cè)厚儀與使用其他儀器一樣,既要掌握儀器性能,也需了解測(cè)試條件。使用磁性原理和渦流原理的覆層測(cè)厚儀都是基于被測(cè)基體的電、磁特性及與探頭的距離來(lái)測(cè)量覆層厚度的,所以,被測(cè)基體的電磁物理特性與物理尺寸都要影響磁通與電渦流的大小。即影響到測(cè)量值的可靠性,下面就這方面的問(wèn)題作一下介紹。

            1.邊界間距

            如果探頭與被測(cè)體邊界、孔眼、空腔、其他截面變化處的間距小于規(guī)定的邊界間距,由于磁通或渦流載體截面不夠?qū)?dǎo)致測(cè)量誤差。如必須測(cè)量該點(diǎn)的覆層厚度,只有預(yù)先在相同條件的無(wú)覆層表面進(jìn)行校準(zhǔn),才能測(cè)量。(注:最新的產(chǎn)品有透過(guò)覆層校準(zhǔn)的獨(dú)特功能可達(dá)3~10%的精度)

            2.基體表面曲率

            在一個(gè)平直的對(duì)比試樣上校準(zhǔn)好一個(gè)初始值,然后在測(cè)量覆層厚度后減去這個(gè)初始值。或參照下條。

            3.基體金屬最小厚度

            基體金屬必須有一個(gè)給定的最小厚度,使探頭的電磁場(chǎng)能完全包容在基體金屬中,最小厚度與測(cè)量器的性能及金屬基體的性質(zhì)有關(guān),在這個(gè)厚度之上剛好可以進(jìn)行測(cè)量而不用對(duì)測(cè)量值修正。對(duì)于基體厚度不夠而產(chǎn)生的影響,可以采取在基材下面緊貼一塊相同材料的措施予以消除。如難以決斷,或無(wú)法加基材則可以通過(guò)與已知覆層厚度的試樣進(jìn)行對(duì)比來(lái)確定與額定值的差值。并且在測(cè)量中考慮這點(diǎn)而對(duì)測(cè)量值作相應(yīng)的修正或參考第2條修正。而那些可以標(biāo)定的儀器通過(guò)調(diào)整旋鈕或按鍵,便可以得到準(zhǔn)確的直讀厚度值。

            反之利用厚度太小產(chǎn)生的影響又可以研制直接測(cè)銅箔厚度的測(cè)厚儀,如前所述。

            4.表面粗糙度和表面清潔度

            在粗糙度表面上為獲得一個(gè)有代表性的平均測(cè)量值必須進(jìn)行多次測(cè)量才行。顯而易見(jiàn),不論是基體或是覆層,越粗糙,測(cè)量值越不可靠。為獲得可靠的數(shù)據(jù),基體的平均粗糙度Ra應(yīng)小于覆層厚度的5%。而對(duì)于表面雜質(zhì),則應(yīng)予去除。有的儀表上下限,以剔除那些“飛點(diǎn)”。

            5.探頭測(cè)量板的作用力

            探頭測(cè)量時(shí)的作用力應(yīng)是恒定的。并應(yīng)盡可能小。才不致使軟的覆層發(fā)生形變,以致測(cè)量值下降。活產(chǎn)生大的波動(dòng),必要時(shí),可在兩者之間墊一層硬的,不導(dǎo)電的,具有一定厚度的硬性薄膜。這樣通過(guò)減去薄膜厚度就能適當(dāng)?shù)氐玫绞4拧?

            6.外界恒磁場(chǎng)、電磁場(chǎng)和基體剩磁

            應(yīng)該避免在有干擾作用的外界磁場(chǎng)附近進(jìn)行測(cè)量。殘存的剩磁,根據(jù)檢測(cè)器的性能可能導(dǎo)致或多或少的測(cè)量誤差,但是如結(jié)構(gòu)鋼,深沖成形鋼板等一般不會(huì)出現(xiàn)上述現(xiàn)象。

            7.覆層材料中的鐵磁成份和導(dǎo)電成份

            覆層中存在某些鐵磁成分,如某種顏料時(shí),會(huì)對(duì)測(cè)量值產(chǎn)生影響,在這種情況下,對(duì)用作校準(zhǔn)的對(duì)比試樣覆層應(yīng)具有與被測(cè)物覆層相同的電磁特性,經(jīng)校準(zhǔn)后使用。使用的方法可以是將同樣的覆層涂在鋁或銅板試樣上,用電渦流法測(cè)試后獲得對(duì)比標(biāo)準(zhǔn)試樣。也可向有關(guān)計(jì)量測(cè)試部門(mén)購(gòu)得。(end)

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