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            EEPW首頁(yè) > EDA/PCB > 業(yè)界動(dòng)態(tài) > 應(yīng)用材料推出太陽(yáng)能制造用全自動(dòng)硅片檢測(cè)系統(tǒng)

            應(yīng)用材料推出太陽(yáng)能制造用全自動(dòng)硅片檢測(cè)系統(tǒng)

            —— 世界一流的光致發(fā)光和100%自動(dòng)檢測(cè)技術(shù)能夠預(yù)測(cè)最終硅片效率,提高良率并節(jié)約成本;? 集成了最先進(jìn)的檢測(cè)能力,為硅片質(zhì)量檢測(cè)提供業(yè)界最高的檢查精度
            作者: 時(shí)間:2014-05-20 來(lái)源:電子產(chǎn)品世界 收藏

              本周在上海召開(kāi)的 第八屆國(guó)際太陽(yáng)能產(chǎn)業(yè)及光伏工程(上海)展覽會(huì)暨論壇上,應(yīng)用材料公司宣布推出具備全新功能的 Applied ™ 太陽(yáng)能硅片檢測(cè)系統(tǒng),以減少?gòu)S商生產(chǎn)成本并提高高效太陽(yáng)能電池生產(chǎn)的總體平均良率。這些新功能包括:100%在線硅片檢測(cè),以解決人工檢查的質(zhì)量局限;以及通過(guò)光致發(fā)光()技術(shù)自動(dòng)預(yù)測(cè)硅片電池轉(zhuǎn)換效率的能力,使客戶能夠只處理符合質(zhì)量和良率規(guī)格的硅片,獲取更高的利潤(rùn)。

            本文引用地址:http://www.biyoush.com/article/247116.htm

              應(yīng)用材料公司副總裁兼能源和環(huán)境解決方案事業(yè)部太陽(yáng)能產(chǎn)品總經(jīng)理吉姆·穆林表示:“ 系統(tǒng)實(shí)現(xiàn)了實(shí)時(shí)的良率優(yōu)化,我們的客戶現(xiàn)在能以更節(jié)約成本的方式跟蹤進(jìn)出硅片的質(zhì)量,并調(diào)整制造工藝來(lái)提高良率和分檔。由于光伏產(chǎn)業(yè)與“效率警鐘”保持同步并轉(zhuǎn)向更先進(jìn)的電池,控制生產(chǎn)良率成為了一個(gè)高價(jià)值的問(wèn)題。 系統(tǒng)已為多家客戶成功預(yù)測(cè)了良率并提高了利潤(rùn),證明了其價(jià)值。”

              Vericell 系統(tǒng)采用最先進(jìn)的技術(shù),結(jié)合多重感應(yīng)功能和先進(jìn)的軟件算法,能夠根據(jù)裸硅片材料預(yù)測(cè)最終的電池轉(zhuǎn)換效率,其多晶硅硅片的平均預(yù)測(cè)誤差小于0.15 %。去除低效率硅片以及識(shí)別需要工藝改進(jìn)的硅片,即可全面提升工廠中更高效電池的產(chǎn)能,進(jìn)而顯著提高利潤(rùn)。在運(yùn)用技術(shù)進(jìn)行檢測(cè)的同時(shí), Vericell 工具的自動(dòng)化功能還能預(yù)測(cè)精度,并使其易于整合到現(xiàn)有的生產(chǎn)線中從而立即獲益。

              Vericell 系統(tǒng)的多重集成檢測(cè)模塊可自動(dòng)評(píng)估每個(gè)硅片,以便在生產(chǎn)中發(fā)現(xiàn)并清除有缺陷的硅片。

              該系統(tǒng)可測(cè)量并報(bào)告一系列參數(shù),包括硅片厚度、厚度變化、翹曲和電阻率。該系統(tǒng)還可以檢測(cè)缺陷,包括線痕,邊緣缺口,污點(diǎn)和隱裂。Vericell 工具通過(guò)控制質(zhì)量以及減少人工檢測(cè)造成硅片破損的風(fēng)險(xiǎn)和成本,能夠?yàn)榭蛻舻墓S生產(chǎn)帶來(lái)顯著收益。

              應(yīng)用材料公司的專(zhuān)有良率管理軟件具備Vericell系統(tǒng)功能,可用于收集、整理并分析實(shí)時(shí)數(shù)據(jù)。該軟件允許客戶快速識(shí)別并且對(duì)影響良率的事件采取措施,以優(yōu)化整個(gè)生產(chǎn)線。



            關(guān)鍵詞: SNEC PL Vericell

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