通用微處理器等效老化試驗(yàn)方法分析與研究 作者： 時(shí)間：2008-11-26 來源：網(wǎng)絡(luò) 加入技術(shù)交流群 掃碼加入和技術(shù)大咖面對(duì)面交流海量資料庫查詢 收藏 <a target='_blank'><img src='https://ad.eepw.com.cn/www/delivery/avw.php?zoneid=88&cb=INSERT_RANDOM_NUMBER_HERE&n=a635e61e' border='0' alt='' /></a> <a target='_blank'><img src='https://ad.eepw.com.cn/www/delivery/avw.php?zoneid=87&cb=INSERT_RANDOM_NUMBER_HERE&n=a576c0a2' border='0' alt='' /></a> 結(jié)論 通過對(duì)通用微處理器等效老化試驗(yàn)方法的研究，可以得出如下結(jié)論：1）等效老化試驗(yàn)是評(píng)估和比較不同工藝、不同設(shè)計(jì)的功能全兼容集成電路質(zhì)量和可靠性水平的重要手段；2）“歸一化老化電流”α是能夠表征等效老化應(yīng)力強(qiáng)度的特征參數(shù)；3）通用CPU 可以采用本文給出的等效老化試驗(yàn)方案實(shí)現(xiàn)質(zhì)量和可靠性水平的有效評(píng)估和比較。 上一頁 1 2 3 4 下一頁
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評(píng)論