五、將內(nèi)核測(cè)試圖案重定向并整合到頂層

分層 DFT 方法可以便捷地實(shí)現(xiàn)頂層IC的測(cè)試圖案整合。第一步是執(zhí)行一些基本的DFT設(shè)計(jì)規(guī)則檢查（DRC）。完成這一步只需要有頂層網(wǎng)表和所有內(nèi)核的灰盒模型（圖3）。分層DFT方法常常使用IC 層測(cè)試訪問機(jī)制（TAM），將芯片的IO定向到需要測(cè)試的特殊區(qū)塊或區(qū)塊組。它既可以簡(jiǎn)單到只需要幾個(gè)多路復(fù)用器，也可以復(fù)雜得多。復(fù)用的內(nèi)核通常有并聯(lián)廣播到所有內(nèi)核的輸入信道，這樣從一套輸入信道就得到同樣的測(cè)試。我們比較建議將TAM建立在 IJTAG 的基礎(chǔ)上，因?yàn)镮JTAG是一個(gè)非常廣泛而靈活的標(biāo)準(zhǔn)，也最適用于即插即用。

圖3：模式重定向需要獨(dú)立生成的內(nèi)核測(cè)試圖案，并對(duì)其進(jìn)行重新定向，使之可以從IC層執(zhí)行。這張圖顯示了被重定向并整合的三個(gè)內(nèi)核測(cè)試圖案，使其并行執(zhí)行。對(duì)于一個(gè)典型的 IC來講，會(huì)有一些區(qū)塊的測(cè)試圖案被整合，而另一部分區(qū)塊需要被放到另一階段進(jìn)行測(cè)試。

分層方法的最后一步是生成測(cè)試各內(nèi)核之間互連的IC層測(cè)試圖案?；液心Ｐ驮谶@里被應(yīng)用。它是設(shè)計(jì)后期的 ATPG 步驟，因?yàn)樗袃?nèi)核設(shè)計(jì)和 TAM 首先必須在此之前完成。

六、下一步是什么？

分層 DFT的掃描和包裝器插入、灰盒生成和測(cè)試圖案重定向等基本特性為許多設(shè)計(jì)提供了一個(gè)顯著優(yōu)勢(shì)。但是選擇哪些模塊并行測(cè)試，哪些串行測(cè)試，使測(cè)試效率得到優(yōu)化還需要很多做很多工作。有效的頂層規(guī)劃要求一些內(nèi)核測(cè)試圖案信息必須是有效的。與幫助確定最佳壓縮配置的壓縮分析的功能類似，頂層TAM規(guī)劃在內(nèi)核設(shè)計(jì)可用時(shí)更為高效。針對(duì)這個(gè)問題正在開發(fā)的方法之一是將IC信道帶寬動(dòng)態(tài)分配給各個(gè)內(nèi)核。這樣的話，在設(shè)計(jì)TAM前就不需要知道內(nèi)核測(cè)試圖案的性質(zhì)。此外，動(dòng)態(tài)分配掃描信道將減少整個(gè)測(cè)試圖案集的大小。

七、報(bào)告總結(jié)

分層DFT方法正在被許多設(shè)計(jì)所采用，它顯著加快了 ATPG 的速度，降低了工作站的規(guī)模。這對(duì)于數(shù)億門或以上的超大規(guī)模設(shè)計(jì)來說至關(guān)重要。分層DFT 的另一大優(yōu)點(diǎn)是它很大程度上改進(jìn)了工序，帶來了即插即用的便利。因此，只要內(nèi)核設(shè)計(jì)完成，那么更多的DFT和 ATPG 工作可以在設(shè)計(jì)周期的更早階段進(jìn)行，這些都有利于降低風(fēng)險(xiǎn)、提高可預(yù)見性、以及后期的 ECO。