圖1 可在電路板上管理多條JTAG鏈的典型SCANSTA112 應(yīng)用方案

圖 2 用于多插件背板的 SCANSTA112

若想在新設(shè)計的電路板上添加這種技術(shù)，可以考慮以下的方案。如果 JTAG 鏈上有許多 1149.1 芯片，即表示 JTAG 鏈上有許多邊界掃描單元，而且 JTAG 鏈也較長，測試向量集也較大，并且需要較長的測試時間。采用分區(qū)的方法將 JTAG 分為多個區(qū)段有助于加強測試過程的管理，更快鎖定目標(biāo)芯片以及加強隔離效果 (見圖 1)。此外，若有意在不久的將來改用系統(tǒng)級測試方法，所采用的設(shè)計測試方法必須可以確保整個系統(tǒng)背板都能進行 JTAG 測試，才可進行系統(tǒng)級測試。
這個解決方案利用每一電路板上的多點 JTAG 多路復(fù)用芯片管理測試總線。這個多點功能可以支持背板 JTAG 總線，并且可利用可尋址功能深入每一電路板進行測試 (見圖 2)，而多路復(fù)用功能可支持每一電路板上多個分開的 JTAG 鏈區(qū)段，使采用多顆關(guān)鍵性芯片的設(shè)計可以分為多條專用的 JTAG 鏈，方便直接進入測試，或?qū)?JTAG 可編程元件隔離，以便盡快進入芯片進行配置。
例如，若采用一款可以利用 JTAG 方法進行測試的微處理器模擬閃存編程的總線周期，最好先將專用 JTAG 鏈上的處理器隔離，以便盡快完成模擬過程。若在同一電路板上采用不同廠商的 FPGA 芯片，必須留意 FPGA 廠商不一定采用相同的向量格式，部分廠商在技術(shù)上無法讓目標(biāo)芯片與其它芯片同時處于一條鏈上，因此有必要將兩者隔離。將背板緩沖芯片置于另外一條 JTAG 鏈上，可以迅速證實電路板已按照正確方法插入背板內(nèi)。

SCANSTA111
SCANSTA111 是一個多點可尋址的 JTAG 多路復(fù)用器，其中內(nèi)置三個可配置的本地 JTAG 端口。只要電路板加設(shè) SCANSTA111 芯片，測試電路板時便可利用專用的 JTAG 連接器與背板測試端口相連，或?qū)⒈嘲鍦y試端口與背板測試總線相連。若有多塊采用 SCANSTA111 芯片的插卡與背板測試總線連接一起，而每一插卡各有自己的地址，則可以用任何一塊插卡連接電路板上三個本地 JTAG 端口的任意組合。這款芯片也可為部分本地端口提供兩個通過位 (pass thru bits)，以支持仿真器，或為閃存提供寫入脈沖，以支持其編程操作。這個 SCANSTA111 尋址及多路復(fù)用方案得到了主要ATPG(自動測試程序發(fā)生)軟件供應(yīng)商，如 JTAG Technologies、Goepel 及 Corelis 等的支持。

SCANSTA112
SCANSTA112 是 SCANSTA111 的增強版，其中內(nèi)置七個本地掃描端口，適用于需要為 JTAG 測試總線額外增加分隔區(qū)段的設(shè)計。此外，這款芯片也設(shè)有可互換的雙向背板及 LSP0 端口，使另一測試主控器或仿真器可以控制 JTAG 總線。若芯片置于穿層模式 (stitcher mode)，工程師可以通過指令或外部管腳選擇本地 JTAG 端口。
專為邊界掃描測試而設(shè)的 IEEE 1149.1 標(biāo)準 (通常被稱為 JTAG、1149.1 或只稱為“.1”) 是一種業(yè)內(nèi)標(biāo)準的測試方法，可用以測試復(fù)雜的集成電路及電路板的功能特性。符合這個標(biāo)準的集成電路及電路板設(shè)有 4 線的串行總線，并提供復(fù)位選項，以便支持 JTAG 測試，其中包括測試數(shù)據(jù)輸入 (TDI)、測試數(shù)據(jù)輸出 (TDO)、測試模式選擇 (TMS)、以及測試時鐘 (TCK)。JTAG 除了可用于結(jié)構(gòu)性測試之外，也得到許多 CPLD 制造商的采用，成為編程或配置芯片的標(biāo)準測試方法?！?BR>