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            EEPW首頁 > 測試測量 > 設計應用 > 理解RF器件性能測量過程中的紋波:理論與實驗(下)

            理解RF器件性能測量過程中的紋波:理論與實驗(下)

            作者:Habeeb Ur Rahman Mohammed博士 時間:2014-04-01 來源: 收藏

              接上篇)

            本文引用地址:http://www.biyoush.com/article/235700.htm

              多次反射的反射和傳輸系數(shù)

              本小節(jié)將計算圖1e所示介電模塊多次反射的反射和傳輸系數(shù)。圖2顯示了該介電模塊內正常入射層波多次相互作用情況。

              介電模塊入射的正常平行或者垂直極化平面波可看作:



            關鍵詞: RF DUT TEM

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