從各研究機(jī)構(gòu)研究的成果可以看出，環(huán)境溫度和負(fù)載率對可靠性的影響很大，這兩個(gè)方面對開關(guān)電源由于有很大的影響，所以下面將從這兩個(gè)方面分析如何設(shè)計(jì)出高可靠的開關(guān)電源。其中，PD為使用功率；PR為額定功率。UD為使用電壓；UR為額定電壓。

　　1）環(huán)境溫度對元器件的影響

　　表1～表3分別列出環(huán)境溫度對半導(dǎo)體器件、電容器和電阻器可靠性的影響。表1和表13以PD/PR＝0.5使用負(fù)載設(shè)計(jì)，而表12則以UD/UR＝0.65使用負(fù)載設(shè)計(jì)。

　　表1 環(huán)境溫度對半導(dǎo)體器件可靠性的影響

　　由表1可知，當(dāng)環(huán)境溫度Ta從20℃增加到80℃時(shí)，半導(dǎo)體器件的失效率增大到30倍。

　　由表2可知，當(dāng)環(huán)境溫度Ta從20°C增加到80°C時(shí)，電容器的失效率增大到14倍。

　　表2 環(huán)境溫度對電容器可靠性的影響

　　從表3可知，當(dāng)環(huán)境溫度Ta從20℃增加到80℃時(shí)，電阻器的失效率增大到4倍。

　　表3環(huán)境溫度對電阻器可靠性的影晌

　　2）負(fù)載率對元器件的影響

　　表4和表5分別列出了負(fù)載率對半導(dǎo)體器件、電阻可靠性的影響。

　　由表4可知，當(dāng)PD/PR＝0.8時(shí)，半導(dǎo)體器件的失效率是PD/PR＝0.2時(shí)的1000倍。

　　表4 負(fù)載率對半導(dǎo)體器件、電阻可靠性的影響（環(huán)境溫度50°C）

　　從表5可知，當(dāng)PD/PR＝0.8時(shí)，電阻器的失效率是PD/PR＝0.2時(shí)的8倍。

　　表5負(fù)載率對電阻器可靠性的影響