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      淺析高性能和高密度大電流POL設(shè)計解決方案

      作者: 時間:2013-09-20 來源:網(wǎng)絡(luò) 收藏


        所有的電子產(chǎn)品都像我們這個世界一樣正在不斷縮小。隨著電路功能和集成度的提高,PCB板的空間變得彌足珍貴。主要的板空間要分配給應(yīng)用的內(nèi)核功能,這些應(yīng)用包括微處理器、FPGA、ASIC以及與其相關(guān)的高速 數(shù)據(jù)通道和支持元件。雖然設(shè)計者并不想這樣做,但是電源卻必須壓縮到剩下的有限空間之內(nèi)。功能和密度的增加,耗電也相應(yīng)增加。這就為電源設(shè)計者帶來了一個很大的挑戰(zhàn),即如何以更小的占位提供更高的電源?

      本文引用地址:http://www.biyoush.com/article/228297.htm

        答案說起來非常簡單:提高效率并同時提高開關(guān)頻率。而實際上,這卻是一個很難解決的問題,因為更高的效率和更高開關(guān)頻率是互相排斥的。盡管如此,IR公司大電流負(fù)載點(POL )集成的設(shè)計者還是開發(fā)出來了采用集成型MOSFET的DC-DC降壓轉(zhuǎn)換器,該轉(zhuǎn)換器可以在一個緊湊的5×6 mm封裝中(如圖1),將IR第三代SupIRBuck系列的額定電流擴(kuò)展到25A.

        淺析高性能和高密度大電流POL設(shè)計解決方案

        圖1: 5x6 mm QFN封裝

        這一解決方案拉動了三個領(lǐng)域的共同創(chuàng)新:IC封裝、IC開關(guān)電路設(shè)計和高效MOSFET.由于最新的熱增強(qiáng)型封裝采用銅片,控制器中的創(chuàng)新是針對大于1MHz開關(guān)頻率的控制器和IR的最新一代,即12.5代 MOSFET ,可以在無散熱器的情況下,在25A的電流下運行,與采用控制器和功率MOSFET的分立式解決方案相比,又將PCB的尺寸縮減了70%.利用IR3847(圖2),在一個小至168mm2的面積內(nèi),現(xiàn)在可以實現(xiàn)完整的25A電源解決方案。

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        圖2: PCB面積的縮減

        允許開關(guān)頻率提高到1MHz或者更高,但仍要采用高輸入電壓(如12V),這就需要一款新的專利型模塊架構(gòu),產(chǎn)生極小的導(dǎo)通時間脈沖。例如,將輸出功率從12V轉(zhuǎn)換至1V的1MHz設(shè)計,要求具有83ns的脈沖寬度,這樣就可以容許極小的抖動。在這些條件下,標(biāo)準(zhǔn)的PWM機(jī)制通常會產(chǎn)生30~40ns的抖動,對于這些應(yīng)用而言,這樣的抖動時間是沒有意義的。IR3847內(nèi)的PWM調(diào)制電路僅產(chǎn)生4ns的抖動,與標(biāo)準(zhǔn)解決方案(圖3)相比,縮減了90%.這就實現(xiàn)了雙贏,即將輸出電壓紋波降低約30%的同時,允許1MHz或更高的頻率/更高寬度的操作,實現(xiàn)了更小的尺寸、更好的瞬態(tài)響應(yīng)并采用了更少量的輸出電容。

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        圖3: 抖動比較

        新器件集成了IR公司最新一代的功率MOSFET,從而為具有15A~25A的應(yīng)用取得市場領(lǐng)先的電子性能,其峰值效率高于96%.為了達(dá)到市場領(lǐng)先的散熱性能,例如,在提供25A的電流時,溫度僅僅上升50°C的低值,采用了公司獨有的封裝(圖4)。同步MOSFET轉(zhuǎn)換到“源極在下”配置,同時控制MOSFET卻保持著傳統(tǒng)的“漏極在下”配置。大多數(shù)的熱量是在同步MOSFET源中產(chǎn)生的,并且立即傳導(dǎo)出封裝,并降至底平面,而不是像競爭解決方案那樣,是要經(jīng)過硅芯片。這就有助于從控制MOSFET中傳熱同時降低MOSFET間開關(guān)結(jié)點之間連接的電阻。

        淺析高性能和高密度大電流POL設(shè)計解決方案

        圖4: 專利型封裝將熱傳導(dǎo)和電子傳導(dǎo)最大化

        作為第三代SupIRBuck中的一員,這些器件符合工業(yè)市場中-40oC至125oC的工作結(jié)溫要求。它可能針對單輸入電壓(5V~21V)操作進(jìn)行配置,或者當(dāng)提供5V的外部偏壓時,將輸入功率從1V轉(zhuǎn)換至21V.IR3847具有后部封裝高精度死區(qū)時間微調(diào)功能,將效率損耗降至最低,而且內(nèi)部智能LDO可以實現(xiàn)整個負(fù)載范圍上的效率優(yōu)化。真正的差分遠(yuǎn)程檢測對于大電流應(yīng)用(圖5)至關(guān)重要,在25°C至105°C的溫度范圍上,實現(xiàn)0.5%的基準(zhǔn)電壓精度,輸入前向和超低抖動相結(jié)合,可以實現(xiàn)整個線壓、負(fù)載和溫度上高于3%的整體輸出電壓精度。其它高級特性還包括外部時鐘同步、定序、追蹤、輸出電壓容限、預(yù)偏壓啟動性能、實現(xiàn)輸入電壓感知、可調(diào)節(jié)OVP引腳和內(nèi)部軟啟動。IR3847還具有采用專業(yè)檢測引腳(VSNS)的真正的輸出電壓檢測。這就提供了一個強(qiáng)勁的解決方案,可以保證在所有條件下都可以對輸出電壓進(jìn)行監(jiān)測,特別是出現(xiàn)反饋線纜斷開的情況,否則,就會導(dǎo)致在傳統(tǒng)競爭產(chǎn)品出現(xiàn)的嚴(yán)重的過壓問題。

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        圖5:差分遠(yuǎn)程檢測

        除此之外,還要關(guān)注對于布局的簡化,并使設(shè)計更加強(qiáng)勁以免受噪聲的干擾。例如,通過對引腳輸出進(jìn)行優(yōu)化,實現(xiàn)對于旁通電容器實現(xiàn)簡易的布置,并通過三線引腳,選擇電流限度,這樣就降低了對于芯片的噪聲注入并節(jié)省了電容器,最終簡化了布局。

        利用帶有真正差分遠(yuǎn)程檢測功能的大電流IR3847,IR解決了受到散熱和空間限制的高密度和大電流應(yīng)用方面的挑戰(zhàn)。當(dāng)與標(biāo)準(zhǔn)的分立解決方案相比時,IR3847將PCB占位空間降低了70%,僅要求具有168mm2的PCB占位面積,以提供25A的電流并在負(fù)載端的右側(cè),總的輸出電壓精度提高了3%.競爭器件一般僅具有5%或更低的精度。通過為脈沖寬度的抖動時間大幅度降低50 ns,IR3847實現(xiàn)了更高的閉環(huán)帶寬,最終實現(xiàn)了更好的瞬態(tài)響應(yīng)和更低的輸出電容。

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